| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-21页 |
| 1.1 高功率微波器件的发展与应用 | 第9-10页 |
| 1.2 回旋行波管的研究和发展现状 | 第10-15页 |
| 1.3 雷达的发展与应用 | 第15-18页 |
| 1.3.1 雷达简介 | 第15页 |
| 1.3.2 雷达过去的一些进展 | 第15-16页 |
| 1.3.3 雷达的应用 | 第16-18页 |
| 1.3.3.1 军事应用 | 第16-17页 |
| 1.3.3.2 环境遥感 | 第17页 |
| 1.3.3.3 空中交通管制 | 第17-18页 |
| 1.3.3.4 其他应用 | 第18页 |
| 1.4 回旋行波管相位研究意义及现状 | 第18-19页 |
| 1.5 本论文的主要研究内容及结构安排 | 第19-21页 |
| 1.5.1 主要研究内容 | 第19-20页 |
| 1.5.2 本论文的结构形式 | 第20-21页 |
| 第二章 回旋行波管相关理论分析 | 第21-37页 |
| 2.1 回旋行波管的高频场运动方程 | 第22-26页 |
| 2.2 电子运动方程 | 第26-32页 |
| 2.3 电磁场边界条件 | 第32-34页 |
| 2.4 电磁波的振幅及频率和相位的演变 | 第34-36页 |
| 2.5 本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章 回旋行波管输入输出系统研究分析 | 第37-54页 |
| 3.1 输入输出系统的研究意义 | 第37-38页 |
| 3.2 输入耦合器研究分析 | 第38-49页 |
| 3.2.1 输入耦合器的解析分析 | 第39-42页 |
| 3.2.2 输入耦合器的优化设计 | 第42-43页 |
| 3.2.3 内波导模式纯度的计算方法 | 第43-45页 |
| 3.2.4 耦合器性能受单个耦合缝尺寸影响的分析 | 第45-49页 |
| 3.2.4.1 耦合缝与矩形波导入口的角度不同对耦合能量的影响 | 第45-47页 |
| 3.2.4.2 耦合缝的改变对输入耦合器相位的影响 | 第47页 |
| 3.2.4.3 外波导半径变化时对耦合性能以及输出相位的影响 | 第47-49页 |
| 3.3 回旋行波管的输出渐变段分析 | 第49-53页 |
| 3.4 本章小结 | 第53-54页 |
| 第四章 回旋行波管冷热场相位变化的研究 | 第54-80页 |
| 4.1 回旋行波管冷场相位研究分析 | 第54-65页 |
| 4.1.1 回旋行波管相位决定因素 | 第54-55页 |
| 4.1.2 多模及反射条件下冷场相位随边界及工作频率变化问题 | 第55-57页 |
| 4.1.3 冷场耦合过程中高模式纯度低反射技术 | 第57-59页 |
| 4.1.4 冷场传播过程中高模式纯度低反射技术 | 第59-63页 |
| 4.1.5 高频冷场相位随外界变化控制技术 | 第63-65页 |
| 4.2 冷场相位测试技术 | 第65-68页 |
| 4.2.1 耦合器冷场测试技术 | 第65-66页 |
| 4.2.2 高频加载段的冷场相位测试 | 第66-67页 |
| 4.2.3 输出渐变段冷场相位测试技术 | 第67-68页 |
| 4.3 回旋行波管热场相位研究 | 第68-73页 |
| 4.3.1 回旋行波管热场相位的研究方法 | 第68-69页 |
| 4.3.2 热场相位稳态情况下随外界条件变化趋势问题 | 第69-72页 |
| 4.3.2.1 热场相位小信号分析方法 | 第69-71页 |
| 4.3.2.2 热场大信号分析方法 | 第71-72页 |
| 4.3.3 热场相位在时变多模状态下随时间变化问题 | 第72-73页 |
| 4.4 热场相位计算结果 | 第73-78页 |
| 4.5 本章总结 | 第78-80页 |
| 第五章 全文总结与工作展望 | 第80-82页 |
| 5.1 本文总结 | 第80页 |
| 5.2 本文的主要贡献 | 第80-81页 |
| 5.3 未来工作展望 | 第81-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-87页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第87-88页 |
