高速折叠内插ADC研究
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-11页 |
第一章 绪论 | 第11-16页 |
·ADC 的历史发展与研究现状 | 第11-14页 |
·高速 ADC 的应用 | 第14-15页 |
·论文的研究目标 | 第15-16页 |
第二章 ADC 的原理、类型和参数定义 | 第16-26页 |
·ADC 的概念与原理 | 第16-20页 |
·ADC 的概念 | 第16页 |
·ADC 的基本原理 | 第16-20页 |
·采样 | 第16-18页 |
·量化 | 第18-20页 |
·ADC 的结构类型 | 第20-22页 |
·ADC 的主要参数定义 | 第22-25页 |
·ADC 的静态参数 | 第22-23页 |
·ADC 的动态参数 | 第23-25页 |
·本章小结 | 第25-26页 |
第三章 ADC 架构选择设计 | 第26-32页 |
·工艺讨论 | 第26-27页 |
·高速 ADC 结构讨论 | 第27-30页 |
·本设计 ADC 结构选择 | 第30-31页 |
·本章小结 | 第31-32页 |
第四章 折叠内插结构算法 | 第32-47页 |
·折叠结构原理 | 第32-33页 |
·本设计 ADC 的总体结构 | 第33-34页 |
·单路折叠内插 ADC | 第34-46页 |
·折叠内插结构分解 | 第35-41页 |
·编码 | 第41-46页 |
·低 5 位编码 | 第41-43页 |
·高 3 位编码 | 第43-46页 |
·本章小结 | 第46-47页 |
第五章 折叠内插电路实现 | 第47-66页 |
·电路类型选择 | 第47-48页 |
·电路单元 | 第48-58页 |
·模拟预处理电路 | 第48-50页 |
·折叠电路 | 第50-53页 |
·内插电阻串 | 第53-55页 |
·比较器 | 第55-56页 |
·折叠电路的温度补偿 | 第56-58页 |
·数字自校正 | 第58-63页 |
·自校正流程 | 第59-61页 |
·滤波选择电路 | 第61-62页 |
·自校正仿真结果 | 第62-63页 |
·版图设计 | 第63-65页 |
·本章小结 | 第65-66页 |
第六章 封装设计与测试分析 | 第66-72页 |
·封装设计 | 第66页 |
·测试设计 | 第66-71页 |
·电参数测试 | 第67-68页 |
·PCB、测试系统及外围元件参数提取技术 | 第68-69页 |
·测试结果 | 第69-71页 |
·本章小结 | 第71-72页 |
第七章 结论与展望 | 第72-74页 |
·结论 | 第72-73页 |
·下一步工作展望 | 第73-74页 |
致谢 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-77页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第77-79页 |