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差动共焦显微探测实验系统相关技术的研究

摘要第1-5页
Abstract第5-8页
第1章 绪论第8-13页
   ·课题研究的背景和意义第8-9页
   ·国内外共焦显微技术的发展现状第9-12页
   ·课题来源及主要研究内容第12-13页
第2章 差动共焦显微探测实验系统设计第13-22页
   ·引言第13页
   ·共焦显微探测技术基本原理第13-15页
   ·差动共焦显微探测原理第15-18页
   ·差动共焦显微探测实验总体方案第18-21页
     ·实验系统的系统框图第18-19页
     ·实验系统光路部分第19-20页
     ·实验系统的电气部分设计第20页
     ·实验系统的计算机控制部分设计第20-21页
   ·本章小结第21-22页
第3章 差动共焦显微探测系统电路设计第22-37页
   ·引言第22页
   ·光电探测电路第22-27页
     ·光电器件的选用和光电转换电路设计第22-24页
     ·低通滤波器设计第24-27页
   ·瞄准触发系统电路第27-36页
     ·瞄准触发电路组成第28-29页
     ·去除“伪零位”部分设计第29-33页
     ·过零检测电路与触发电路的设计第33-36页
   ·本章小结第36-37页
第4章 差动共焦显微探测系统计算机控制程序设计第37-48页
   ·引言第37页
   ·压电陶瓷驱动程序设计第37-42页
     ·压电陶瓷驱动电源介绍第37-38页
     ·程序流程图第38-39页
     ·程序编程方法比较第39-40页
     ·定时器控制实现周期运动和步进运动第40-42页
     ·压电陶瓷驱动程序人机界面的设计第42页
   ·数据采集卡程序的设计第42-46页
     ·数据采集卡资源介绍第43页
     ·数据采集卡的数据传输方式比较第43-44页
     ·数据采集卡的触发方式比较第44页
     ·数据采集卡编程方式比较第44-46页
   ·单片机控制程序设计第46-47页
   ·本章小结第47-48页
第5章 实验结果及性能分析第48-55页
   ·引言第48页
   ·光电探测电路性能测试第48-49页
   ·瞄准触发电路性能测试第49-50页
   ·计算机控制系统性能实验第50-51页
   ·共焦扫描显微探测技术轴向响应特性实验第51-53页
   ·差动共焦扫描显微探测曲线第53-54页
   ·本章小结第54-55页
结论第55-56页
参考文献第56-61页
致谢第61页

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