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基于混沌搜索的测试产生算法和测试向量无关位识别器研究

摘要第1-8页
Abstract第8-11页
第1章 绪论第11-17页
   ·研究背景第11页
   ·电压测试第11-12页
   ·电流测试技术第12-16页
     ·稳态电流测试第12-13页
     ·瞬态电流测试第13-15页
     ·全速电流测试第15-16页
   ·本文主要工作第16页
   ·本文组织结构第16-17页
第2章 数字电路测试的基本理论和方法第17-28页
   ·数字电路测试的基本理论第17-24页
     ·故障与故障模型第17-19页
     ·自动测试生成第19-23页
     ·故障模拟第23-24页
   ·波形模拟器第24-26页
   ·PSPICE 模拟软件介绍第26-27页
   ·小结第27-28页
第3章 基于I_(DDT) 测试的开路故障测试产生算法第28-42页
   ·引言第28页
   ·开路故障的注入第28-30页
   ·I_(DDT) 可测试性度量第30页
   ·基于混沌搜索的测试产生算法第30-34页
     ·激活故障第30-31页
     ·瞬态电流差别最大化第31-34页
   ·PSPICE 模拟实验第34-35页
   ·实验结果及分析第35-38页
   ·关于减小搜索空间的思考第38-41页
   ·小结第41-42页
第4章 组合电路测试向量无关位识别器第42-54页
   ·引言第42页
   ·问题概述第42-43页
   ·组合电路测试向量无关位识别器的设计第43-51页
     ·基本步骤第44-49页
     ·完整步骤第49-51页
   ·试验结果及分析第51-52页
   ·应用第52-53页
     ·测试集压缩第52-53页
     ·测试功耗的降低第53页
   ·小结第53-54页
结论第54-56页
参考文献第56-60页
致谢第60-61页
附录 A 攻读硕士期间发表的论文第61页

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