| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 插图索引 | 第9-11页 |
| 附表索引 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-19页 |
| ·研究背景 | 第12-13页 |
| ·集成电路常用测试方法概述 | 第13-17页 |
| ·研究目标 | 第17-18页 |
| ·本文的工作 | 第18-19页 |
| 第2章 I_(DDQ)测试克服工艺影响的方法 | 第19-28页 |
| ·I_(DDQ) 测试原理 | 第19页 |
| ·工艺变化对稳态电流的影响 | 第19-20页 |
| ·I_(DDQ)测试克服工艺参数影响的方法 | 第20-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 I_(DDT) 测试及其克服工艺参数影响的方法 | 第28-38页 |
| ·瞬态电流测试的基本理论和方法 | 第28-35页 |
| ·工艺参数对瞬态电流的影响 | 第35页 |
| ·一种I_(DDT)测试克服工艺参数影响的方法 | 第35-37页 |
| ·小结 | 第37-38页 |
| 第4章 模拟实验 | 第38-54页 |
| ·PSPICE 简介 | 第38-39页 |
| ·模型的建立 | 第39-41页 |
| ·组合电路的模拟 | 第41-42页 |
| ·瞬态电流的观测 | 第42-44页 |
| ·蒙特卡罗分析 | 第44-46页 |
| ·模拟结果 | 第46-53页 |
| ·小结 | 第53-54页 |
| 结束语 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-59页 |
| 附录 A 攻读学位期间完成的论文 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60页 |