摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-12页 |
第一章 概论 | 第12-28页 |
·引言 | 第12-13页 |
·YBCO薄膜的应用 | 第13-20页 |
·弱电方面的应用 | 第13-14页 |
·强电方面的应用 | 第14-15页 |
·YBCO薄膜的应用要求 | 第15-20页 |
·YBCO薄膜的研究现状 | 第20-27页 |
·氧化物单晶基底上YBCO薄膜研究 | 第20页 |
·金属基底上YBCO薄膜研究 | 第20-23页 |
·YBCO薄膜的磁通钉扎改性研究 | 第23-24页 |
·YBCO薄膜的制备方法 | 第24-27页 |
·本论文的选题及研究思路 | 第27-28页 |
第二章 实验方法与原理 | 第28-42页 |
·YBCO薄膜的制备过程 | 第28-32页 |
·前驱体溶液的合成 | 第28-29页 |
·前驱膜的涂覆 | 第29-30页 |
·涂后热处理工艺 | 第30-32页 |
·YBCO薄膜的分析表征方法 | 第32-42页 |
·厚度检测 | 第32-33页 |
·结构分析 | 第33-35页 |
·形貌分析 | 第35-38页 |
·电性能分析 | 第38-42页 |
第三章 TFA-MOD方法生长YBCO薄膜工艺研究 | 第42-72页 |
·引言 | 第42页 |
·TFA-MOD前驱体溶液的制备 | 第42-43页 |
·生长温度对YBCO结构和性能的影响 | 第43-48页 |
·生长温度对薄膜结构的影响 | 第44-46页 |
·生长温度对薄膜形貌的影响 | 第46-47页 |
·生长温度对性能的影响 | 第47-48页 |
·前驱体溶液的浓度对YBCO结构和性能的影响 | 第48-54页 |
·溶液浓度对薄膜结构和形貌的影响 | 第49-52页 |
·溶液浓度对薄膜性能的影响 | 第52-54页 |
·氧分压对YBCO结构和性能的影响 | 第54-58页 |
·提拉速度对薄膜厚度的影响 | 第58-60页 |
·TFA-MOD方法生长YBCO薄膜的微波性能研究 | 第60-62页 |
·MOD方法生长的STO缓冲层上YBCO薄膜的生长 | 第62-65页 |
·金属Ni-5%W基带上YBCO薄膜的生长 | 第65-70页 |
·高温热处理生长温度对YBCO涂层导体的影响 | 第65-68页 |
·缓冲层的表面粗糙度对YBCO涂层导体的影响 | 第68-70页 |
·小结 | 第70-72页 |
第四章 YBCO薄膜的磁通钉扎改性研究 | 第72-97页 |
·引言 | 第72-73页 |
·基片表面纳米尺寸CeO_2颗粒对YBCO薄膜的磁通钉扎改性 | 第73-80页 |
·基片表面纳米尺寸CeO_2颗粒的生长和YBCO薄膜的制备 | 第73-77页 |
·YBCO薄膜在零场下的临界电流密度 | 第77-78页 |
·CeO_2纳米颗粒修饰的YBCO薄膜磁通钉扎特性 | 第78-80页 |
·Y过量对YBCO薄膜的磁通钉扎改性 | 第80-89页 |
·Y过量YBCO薄膜的生长 | 第80-87页 |
·Y过量YBCO薄膜在零场下的临界电流密度 | 第87-88页 |
·Y过量YBCO薄膜磁通钉扎特性 | 第88-89页 |
·稀土元素掺杂对YBCO薄膜的磁通钉扎改性 | 第89-95页 |
·Nd掺杂YBCO薄膜 | 第90-92页 |
·Ho和Er掺杂YBCO薄膜 | 第92-95页 |
·小结 | 第95-97页 |
第五章 改进型TFA-MOD方法生长YBCO薄膜探索 | 第97-112页 |
·引言 | 第97页 |
·实验过程 | 第97-98页 |
·高温热处理温度对YBCO薄膜性质的影响 | 第98-104页 |
·低温分解速度对YBCO薄膜性质的影响 | 第104-111页 |
·小结 | 第111-112页 |
第六章 TFA-MOD方法生长YBCO薄膜机理研究 | 第112-137页 |
·引言 | 第112页 |
·从前驱膜到YBCO相转变的热力学分析 | 第112-120页 |
·YBCO形成过程中的反应机制 | 第112-113页 |
·YBCO形核的势垒和驱动力 | 第113-117页 |
·YBCO成核率 | 第117-120页 |
·YBCO薄膜的生长和取向控制 | 第120-130页 |
·氧分压对YBCO形貌的影响 | 第120-123页 |
·薄膜厚度对YBCO生长和取向的影响 | 第123-130页 |
·YBCO结晶生长动力学过程研究 | 第130-135页 |
·小结 | 第135-137页 |
主要结论和创新点 | 第137-141页 |
参考文献 | 第141-153页 |
致谢 | 第153-154页 |
在读期间已发表和待发表的论文 | 第154-155页 |