| 摘要 | 第1-9页 |
| Abstract | 第9-12页 |
| 1 前言 | 第12-25页 |
| ·研究目的和立题意义 | 第12页 |
| ·植物铝毒害机制 | 第12-17页 |
| ·铝在细胞壁上的积累 | 第12-13页 |
| ·铝在果胶上的积累 | 第13页 |
| ·铝胁迫下果胶含量的变化 | 第13-14页 |
| ·铝胁迫下果胶多糖组成的变化 | 第14-15页 |
| ·铝胁迫下果胶甲基酯化程度的变化 | 第15页 |
| ·铝胁迫下果胶甲酯酶的变化 | 第15-17页 |
| ·硼与细胞壁 | 第17-20页 |
| ·硼在细胞壁中的积累和分布 | 第17页 |
| ·硼与果胶的结合 | 第17-20页 |
| ·边缘细胞 | 第20-25页 |
| ·边缘细胞概述 | 第20页 |
| ·果胶甲基酯酶与边缘细胞的关系 | 第20-21页 |
| ·铝对边缘细胞的影响 | 第21-22页 |
| ·硼对边缘细胞的影响 | 第22-23页 |
| ·边缘细胞在硼缓解铝毒的作用 | 第23-25页 |
| 2 硼铝处理对豌豆根边缘细胞存活率和总数的影响 | 第25-28页 |
| ·材料与方法 | 第25-26页 |
| ·豌豆种子的前处理及边缘细胞培养 | 第25-26页 |
| ·实验设计 | 第26页 |
| ·检测方法 | 第26页 |
| ·数据处理 | 第26页 |
| ·结果与分析 | 第26-27页 |
| ·讨论 | 第27页 |
| ·小结 | 第27-28页 |
| 3 铝硼处理对豌豆边缘细胞和根段细胞果胶中铝分配的影响 | 第28-32页 |
| ·材料与方法 | 第28-29页 |
| ·豌豆种子的前处理及边缘细胞培养 | 第28页 |
| ·试验设计 | 第28页 |
| ·细胞壁样品制备 | 第28-29页 |
| ·细胞壁果胶样品制备 | 第29页 |
| ·铝含量测定 | 第29页 |
| ·数据处理 | 第29页 |
| ·结果与分析 | 第29-31页 |
| ·讨论 | 第31页 |
| ·小结 | 第31-32页 |
| 4 硼铝对豌豆根边缘细胞和根段细胞壁果胶含量的变化 | 第32-38页 |
| ·材料与方法 | 第32-33页 |
| ·豌豆种子的前处理及边缘细胞培养 | 第32页 |
| ·试验设计 | 第32页 |
| ·细胞壁的提取 | 第32页 |
| ·细胞壁多糖成分的分离 | 第32页 |
| ·细胞壁果胶含量测定方法 | 第32页 |
| ·数据处理 | 第32-33页 |
| ·结果与分析 | 第33-35页 |
| ·硼铝处理后,豌豆边缘细胞和根段细胞壁果胶总糖含量的变化 | 第33页 |
| ·硼铝处理后,豌豆边缘细胞和根段细胞壁果胶糖醛酸含量的变化 | 第33-34页 |
| ·硼铝处理后,豌豆边缘细胞和根段细胞壁果胶KDO含量的变化 | 第34-35页 |
| ·讨论 | 第35-37页 |
| ·小结 | 第37-38页 |
| 5 硼铝处理对豌豆边缘细胞和根段细胞壁果胶多糖组分的影响 | 第38-46页 |
| ·材料与方法 | 第38-40页 |
| ·豌豆种子的前处理及边缘细胞培养 | 第38页 |
| ·实验设计 | 第38页 |
| ·豌豆边缘细胞及根细胞壁果胶多糖的提取 | 第38页 |
| ·细胞壁果胶多糖的分离 | 第38-39页 |
| ·细胞壁果胶多糖组分的检验 | 第39页 |
| ·数据处理 | 第39-40页 |
| ·结果与分析 | 第40-44页 |
| ·硼铝处理,豌豆边缘细胞和根段细胞壁果胶多糖组分和分子量的变化 | 第40-42页 |
| ·硼铝处理,豌豆根边缘细胞和根段细胞壁果胶1多糖Al含量的变化 | 第42-44页 |
| ·讨论 | 第44-45页 |
| ·小结 | 第45-46页 |
| 6 硼铝处理对豌豆边缘细胞果胶甲基酯酶和果胶甲基酯化程度的影响研究 | 第46-51页 |
| ·材料与方法 | 第46-47页 |
| ·豌豆种子的前处理及边缘细胞培养 | 第46页 |
| ·试验设计 | 第46-47页 |
| ·数据处理 | 第47页 |
| ·结果与分析 | 第47-48页 |
| ·硼铝处理,果胶甲基酯酶活性变化 | 第47-48页 |
| ·硼铝处理,果胶甲基酯化程度变化 | 第48页 |
| ·讨论 | 第48-51页 |
| ·小结 | 第51页 |
| 7 总讨论 | 第51-53页 |
| ·细胞壁在植物抗铝毒机理中的作用 | 第51-52页 |
| ·边缘细胞在植物抗铝毒机理中的作用 | 第52-53页 |
| ·边缘细胞在硼缓解铝毒的可能机制 | 第53页 |
| 8 结论 | 第53-54页 |
| 9 待进一步解决的问题 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-64页 |
| 致谢 | 第64页 |