| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| ·选题背景 | 第9-14页 |
| ·CMOS 图像传感器的发展历史 | 第9-10页 |
| ·CMOS 图像传感器性能特点 | 第10-12页 |
| ·CMOS 图像传感器研究现状及动态范围扩展技术介绍 | 第12-14页 |
| ·本文的研究内容和组织结构 | 第14-15页 |
| 第2章 CMOS 图像传感器基本原理和主要参数 | 第15-22页 |
| ·光电二极管感光原理及数学模型 | 第15-19页 |
| ·光生伏特效应 | 第15-16页 |
| ·光电二极管伏安特性 | 第16-17页 |
| ·光电二极管电路模型 | 第17-18页 |
| ·光电二极管噪声模型 | 第18-19页 |
| ·CMOS 图像传感器关键参数的数学模型 | 第19-21页 |
| ·总结 | 第21-22页 |
| 第3章 指数时间采样条件重置技术性能分析 | 第22-34页 |
| ·普通条件重置技术原理 | 第22-29页 |
| ·条件重置像素电路结构 | 第22-25页 |
| ·条件重置技术性能分析 | 第25-29页 |
| ·小结 | 第29页 |
| ·指数时间采样条件重置原理及电路结构 | 第29-33页 |
| ·指数时间采样重置CMOS 图像传感器电路结构 | 第30-31页 |
| ·指数时间采样重置CMOS 图像传感器性能分析 | 第31-33页 |
| ·总结 | 第33-34页 |
| 第4章 改进型指数时间采样条件重置像素单元设计 | 第34-47页 |
| ·指数时间采样条件重置电路存在问题分析 | 第34-35页 |
| ·指数时间采样条件重置电路改进设计 | 第35-41页 |
| ·脉冲生成电路 | 第35-37页 |
| ·改进型指数采样条件重置电路设计 | 第37-40页 |
| ·小结 | 第40-41页 |
| ·像素驱动模块设计 | 第41-44页 |
| ·驱动模块接口设计 | 第41-42页 |
| ·驱动模块设计与仿真 | 第42-44页 |
| ·像素单元系统数模混合仿真 | 第44-45页 |
| ·总结 | 第45-47页 |
| 第5章 指数时间采样条件重置像素列级ADC 设计 | 第47-69页 |
| ·CMOS 图像传感器ADC 介绍 | 第47-51页 |
| ·ADC 在CMOS 图像传感器中的架构类型 | 第47-48页 |
| ·CMOS 图像传感器常用ADC 介绍 | 第48-51页 |
| ·小结 | 第51页 |
| ·指数采样条件重置像素列级ADC 的模块设计 | 第51-62页 |
| ·逐次逼近ADC 原理 | 第51-53页 |
| ·电荷再分配电容阵列DAC 设计 | 第53-55页 |
| ·比较器的设计和分析 | 第55-59页 |
| ·移位SAR 模块设计 | 第59-62页 |
| ·小结 | 第62页 |
| ·指数采样条件重置CIS 列级ADC 数模混合仿真及性能分析 | 第62-67页 |
| ·8 位逐次逼近ADC 输入信号全摆幅结果分析 | 第62-66页 |
| ·12 位扩展ADC 的位移扩展功能仿真验证 | 第66-67页 |
| ·12 位扩展ADC 整体性能分析 | 第67页 |
| ·总结 | 第67-69页 |
| 第6章 全文总结 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第73页 |