摘要 | 第4-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第11-17页 |
1.1 课题研究的目的和意义 | 第11-12页 |
1.1.1 课题来源 | 第11页 |
1.1.2 研究目的及意义 | 第11-12页 |
1.2 国内外研究现状及分析 | 第12-15页 |
1.2.1 国外研究现状 | 第12-14页 |
1.2.2 国内研究现状 | 第14-15页 |
1.3 论文主要研究内容 | 第15-17页 |
第2章 相机电子学系统相关技术参数对成像质量影响分析 | 第17-28页 |
2.1 引言 | 第17页 |
2.2 电子学系统相关技术参数对成像质量的影响概述 | 第17-18页 |
2.3 MTF影响因素分析 | 第18-21页 |
2.3.1 图像传感器采样积分对MTF的影响 | 第18-19页 |
2.3.2 电荷扩散对MTF的影响 | 第19页 |
2.3.3 成像电子学非线性对MTF的影响 | 第19-20页 |
2.3.4 噪声对MTF的影响 | 第20页 |
2.3.5 影响MTF的过程成像参数提取 | 第20-21页 |
2.4 SNR影响因素分析 | 第21-26页 |
2.4.1 成像电子学噪声对信噪比影响分析 | 第22-24页 |
2.4.2 成像电子学可调增益、级数对信噪比影响分析 | 第24-25页 |
2.4.3 影响SNR的过程成像参数提取 | 第25-26页 |
2.5 改善SNR和MTF的措施 | 第26-27页 |
2.6 本章小结 | 第27-28页 |
第3章 高速率低噪声集成化信号处理电路设计 | 第28-52页 |
3.1 引言 | 第28页 |
3.2 焦面CCD电路设计 | 第28-33页 |
3.2.1 焦面CCD选取 | 第29-30页 |
3.2.2 焦面电源变换网络 | 第30-33页 |
3.2.3 焦面CCD电路设计及试验电路测试结果 | 第33页 |
3.3 焦面驱动电路设计 | 第33-41页 |
3.3.1 信号驱动电路设计 | 第33-36页 |
3.3.2 级数选择电路设计 | 第36页 |
3.3.3 信号滤波电路设计 | 第36-39页 |
3.3.4 厚膜集成与测量结果 | 第39-41页 |
3.4 预处理电路设计 | 第41-42页 |
3.5 数据处理电路设计 | 第42-50页 |
3.5.1 系统复位 | 第43-44页 |
3.5.2 时钟管理 | 第44-45页 |
3.5.3 AD9942驱动设计 | 第45-46页 |
3.5.4 CCD驱动设计 | 第46-47页 |
3.5.5 遥控遥测设计 | 第47-48页 |
3.5.6 数传模块设计 | 第48-50页 |
3.6 本章小结 | 第50-52页 |
第4章 CCD相机电子学系统集成化设计与实现 | 第52-66页 |
4.1 引言 | 第52页 |
4.2 传统CCD电子学系统设计 | 第52-53页 |
4.3 CCD电子学系统集成化设计 | 第53-57页 |
4.3.1 集成化设计方案 | 第53-54页 |
4.3.2 集成化的设计实现 | 第54-55页 |
4.3.3 信息流、数据流设计 | 第55-57页 |
4.4 集成化系统FPGA软件设计 | 第57-62页 |
4.4.1 功能性能需求 | 第57-58页 |
4.4.2 软件接口 | 第58页 |
4.4.3 指令流与数据流 | 第58-59页 |
4.4.4 系统工作流程 | 第59-60页 |
4.4.5 FPGA软件详细设计 | 第60-62页 |
4.5 相机结构适应性设计 | 第62-65页 |
4.6 本章小结 | 第65-66页 |
第5章 相机电子学自动化综合测试系统 | 第66-74页 |
5.1 引言 | 第66页 |
5.2 空间相机测试流程 | 第66页 |
5.3 自动化测试系统总体架构 | 第66-69页 |
5.4 自动化测试系统原理 | 第69-71页 |
5.5 测试结果与数据分析 | 第71-73页 |
5.5.1 集成化后的成像电子学系统MTF测试结果分析 | 第71-72页 |
5.5.2 集成化后的成像电子学系统S/N测试结果分析 | 第72-73页 |
5.6 本章小结 | 第73-74页 |
结论 | 第74-76页 |
参考文献 | 第76-80页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第80-82页 |
致谢 | 第82-83页 |
个人简历 | 第83页 |