| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 引言 | 第8-13页 |
| 1.1 课题研究背景与意义 | 第8-9页 |
| 1.2 集成电路功能测试的发展与现状 | 第9-12页 |
| 1.3 本文主要内容及结构安排 | 第12-13页 |
| 第二章 集成电路测试概述 | 第13-26页 |
| 2.1 测试的基本概述 | 第13-14页 |
| 2.2 集成电路测试的分类 | 第14-17页 |
| 2.2.1 验证测试 | 第14页 |
| 2.2.2 生产测试 | 第14-16页 |
| 2.2.3 可接受测试 | 第16页 |
| 2.2.4 功能测试类型 | 第16-17页 |
| 2.3 数字集成电路测试的基本原理 | 第17-18页 |
| 2.4 芯片级测试标准 | 第18-22页 |
| 2.4.1 IEEE 1149.1 | 第18-20页 |
| 2.4.2 IEEE P1150 | 第20-21页 |
| 2.4.3 IEEE P1687 | 第21-22页 |
| 2.5 内建自测试 | 第22-25页 |
| 2.5.1 测试图形生成电路 | 第23页 |
| 2.5.2 测试响应压缩 | 第23-24页 |
| 2.5.3 逻辑内建自测试结构 | 第24-25页 |
| 2.6 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 基于软件的自测试方法 | 第26-36页 |
| 3.1 SBST相关简介 | 第26-27页 |
| 3.2 SBST的测试原理及流程 | 第27-28页 |
| 3.2.1 SBST测试原理 | 第27-28页 |
| 3.2.2 SBST测试流程 | 第28页 |
| 3.3 结构型BIST与SBST的比较 | 第28-29页 |
| 3.4 处理器功能故障自测试 | 第29-32页 |
| 3.4.1 处理器模型 | 第29-31页 |
| 3.4.2 功能级故障模型 | 第31-32页 |
| 3.5 测试生成 | 第32-35页 |
| 3.5.1 寄存器译码故障的测试生成 | 第32-33页 |
| 3.5.2 指令译码和控制故障的测试生成 | 第33-34页 |
| 3.5.3 数据传输与存储功能的测试生成 | 第34-35页 |
| 3.6 本章小结 | 第35-36页 |
| 第四章 基于SBST方法的DSP功能测试平台的搭建 | 第36-48页 |
| 4.1 DSP芯片简介及测试开发方法介绍 | 第36-38页 |
| 4.1.1 DSP技术介绍 | 第36页 |
| 4.1.2 DSP芯片的基本特点 | 第36-38页 |
| 4.1.3 测试开发方法介绍 | 第38页 |
| 4.2 DSP测试系统的总体结构 | 第38-40页 |
| 4.3 系统硬件电路设计 | 第40-44页 |
| 4.3.1 电源电路设计 | 第40-41页 |
| 4.3.2 时钟电路 | 第41页 |
| 4.3.3 外部扩展存储器 | 第41-42页 |
| 4.3.4 前端适配器电路设计 | 第42-43页 |
| 4.3.5 控制模块电路设计 | 第43-44页 |
| 4.4 基于LabVIEW的数据处理系统设计 | 第44-47页 |
| 4.4.1 Lab VIEW介绍 | 第44-46页 |
| 4.4.2 数据处理系统设计 | 第46-47页 |
| 4.5 本章小结 | 第47-48页 |
| 第五章 TMS320F2812的功能测试 | 第48-86页 |
| 5.1 TMS320F2812的测试概要 | 第48-55页 |
| 5.1.1 TMS320F2812介绍 | 第48-49页 |
| 5.1.2 测试原理及测试流程 | 第49-51页 |
| 5.1.3 测试程序的开发环境 | 第51-53页 |
| 5.1.4 测试程序的框架 | 第53-55页 |
| 5.2 存储器操作测试 | 第55-61页 |
| 5.2.1 存储器所实现的功能 | 第55-57页 |
| 5.2.2 测试程序的开发 | 第57-59页 |
| 5.2.3 测试结果分析 | 第59-61页 |
| 5.3 CPU内核测试 | 第61-66页 |
| 5.3.1 CPU内核所实现的功能 | 第61-63页 |
| 5.3.2 测试程序的开发 | 第63-66页 |
| 5.3.3 测试结果分析 | 第66页 |
| 5.4 事件管理器功能测试 | 第66-73页 |
| 5.4.1 事件管理器的功能 | 第66-67页 |
| 5.4.2 测试程序的开发 | 第67-72页 |
| 5.4.3 测试结果分析 | 第72-73页 |
| 5.5 GPIO功能测试 | 第73-78页 |
| 5.5.1 GPIO功能概述 | 第73页 |
| 5.5.2 测试程序的开发 | 第73-77页 |
| 5.5.3 测试结果分析 | 第77-78页 |
| 5.6 其他片内功能测试说明 | 第78-85页 |
| 5.6.1 SCI测试 | 第78-80页 |
| 5.6.2 CAN测试 | 第80-83页 |
| 5.6.3 隐性测试说明 | 第83-85页 |
| 5.7 本章小结 | 第85-86页 |
| 第六章 总结与展望 | 第86-88页 |
| 参考文献 | 第88-91页 |
| 致谢 | 第91-92页 |
| 附录 | 第92-93页 |