| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-18页 |
| 1.1 选题背景及研究意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-15页 |
| 1.2.1 航天电子器件IGBT筛选技术研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.2 航天电子器件IGBT可靠性研究现状 | 第13-15页 |
| 1.3 论文研究内容及结构 | 第15-18页 |
| 1.3.1 论文研究内容 | 第15-16页 |
| 1.3.2 论文整体结构 | 第16-18页 |
| 第二章 IGBT筛选技术理论基础 | 第18-28页 |
| 2.1 IGBT结构及失效基础 | 第18-23页 |
| 2.1.1 IGBT基本结构 | 第18-19页 |
| 2.1.2 IGBT基本失效模式及机理 | 第19-23页 |
| 2.1.3 IGBT失效判据 | 第23页 |
| 2.2 高加速应力筛选试验基础 | 第23-25页 |
| 2.2.1 高加速应力试验 | 第23-24页 |
| 2.2.2 高加速应力筛选基本原理 | 第24-25页 |
| 2.3 电子器件可靠性分析基础 | 第25-27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 基于FMECA及仿真的IGBT薄弱环节确定 | 第28-43页 |
| 3.1 引言 | 第28-29页 |
| 3.2 IGBT器件的FMECA研究 | 第29-34页 |
| 3.2.1 电子器件FMECA方法 | 第29页 |
| 3.2.2 IGBT器件的FMECA分析 | 第29-34页 |
| 3.3 IGBT基于有限元仿真的多物理场耦合分析 | 第34-42页 |
| 3.3.1 IGBT电-热-力耦合分析简介 | 第34-36页 |
| 3.3.2 IGBT电-热耦合模型的建立 | 第36-38页 |
| 3.3.3 IGBT电-热-力耦合分析 | 第38-42页 |
| 3.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 IGBT筛选试验设计及剖面验证 | 第43-70页 |
| 4.1 引言 | 第43-44页 |
| 4.2 IGBT筛选试验方案设计 | 第44-45页 |
| 4.3 IGBT筛选应力选择与筛选机理分析 | 第45-47页 |
| 4.3.1 HASS常用应力类型及筛选机理 | 第45页 |
| 4.3.2 IGBT筛选应力确定 | 第45-47页 |
| 4.4 IGBT高加速寿命试验 | 第47-52页 |
| 4.4.1 低温/高温步进试验 | 第47-48页 |
| 4.4.2 快速温变试验 | 第48-49页 |
| 4.4.3 随机振动试验 | 第49-50页 |
| 4.4.4 IGBT高加速寿命试验设计 | 第50-52页 |
| 4.5 IGBT高加速应力筛选剖面设计 | 第52-56页 |
| 4.5.1 HASS剖面设计方法 | 第52-55页 |
| 4.5.2 IGBT初始筛选剖面的建立 | 第55-56页 |
| 4.6 IGBT基于筛选度模型及仿真分析的筛选剖面验证 | 第56-69页 |
| 4.6.1 IGBT筛选剖面的有效性验证 | 第57-59页 |
| 4.6.2 IGBT筛选剖面的安全性验证 | 第59-62页 |
| 4.6.3 案例分析 | 第62-69页 |
| 4.7 本章小结 | 第69-70页 |
| 第五章 IGBT基于加速寿命试验的可靠性分析 | 第70-87页 |
| 5.1 引言 | 第70页 |
| 5.2 IGBT加速寿命试验 | 第70-75页 |
| 5.2.1 加速寿命试验原理 | 第70-72页 |
| 5.2.2 IGBT加速寿命试验模型 | 第72-73页 |
| 5.2.3 IGBT加速寿命试验设计 | 第73-75页 |
| 5.3 IGBT寿命统计及其可靠性分析 | 第75-86页 |
| 5.3.1 IGBT基于线性回归的参数估计 | 第75-82页 |
| 5.3.2 IGBT寿命分布模型的显著性检验 | 第82-84页 |
| 5.3.3 IGBT可靠性分析 | 第84-86页 |
| 5.4 本章小结 | 第86-87页 |
| 第六章 总结与展望 | 第87-89页 |
| 6.1 全文总结 | 第87-88页 |
| 6.2 后续展望 | 第88-89页 |
| 致谢 | 第89-90页 |
| 参考文献 | 第90-96页 |
| 附表Ⅰ IGBT器件FMECA分析 | 第96-99页 |
| 攻读硕士学位期间参加的科研项目与取得的成果 | 第99页 |