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多核处理器功耗和性能模型

摘要第8-9页
ABSTRACT第9页
第一章 绪论第10-21页
    1.1 研究背景第10-13页
        1.1.1 多核多线程处理器第10-11页
        1.1.2“功耗墙”问题第11-13页
    1.2 国内外研究现状第13-19页
        1.2.1 低功耗技术第13-14页
        1.2.2 功耗模型第14-17页
        1.2.3 性能模型第17-19页
    1.3 本文的主要工作第19-20页
    1.4 本文的组织结构第20-21页
第二章 性能计数器第21-29页
    2.1 性能监测机制第21-25页
        2.1.1 通用选择寄存器第22-23页
        2.1.2 固定功能计数器第23-24页
        2.1.3 全局控制器第24-25页
    2.2 监测工具和监测流程第25-28页
        2.2.1 监测工具第25-26页
        2.2.2 编程接口第26-27页
        2.2.3 监测流程第27-28页
    2.3 本章小结第28-29页
第三章 功耗模型第29-37页
    3.1 建立模型第29-31页
        3.1.1 CMOS电路功耗分析第29页
        3.1.2 静态功耗模型第29-30页
        3.1.3 动态功耗模型第30-31页
    3.2 事件选择算法第31-36页
        3.2.1 训练时间优化第34-36页
    3.3 本章小结第36-37页
第四章 性能模型第37-48页
    4.1 流水线性能分析第37-42页
    4.2 Leading Load模型第42-43页
    4.3 Intel平台上跨频率域的性能预测模型第43-46页
    4.4 本章小结第46-48页
第五章 测试及结果分析第48-60页
    5.1 功耗模型实现及分析第48-56页
        5.1.1 实验平台第48页
        5.1.2 实验流程第48-49页
        5.1.3 实时功耗监测第49-50页
        5.1.4 采样性能计数器第50-51页
        5.1.5 测试用例第51页
        5.1.6 测试结果第51页
        5.1.7 误差分析第51-53页
        5.1.8 训练时间优化第53-54页
        5.1.9 SMT的影响第54-55页
        5.1.10 功耗模型对比第55-56页
    5.2 性能模型实现及分析第56-57页
        5.2.1 实验平台第56页
        5.2.2 实验过程第56-57页
        5.2.3 测试结果第57页
    5.3 本章小结第57-60页
第六章 结论及展望第60-62页
    6.1 工作总结第60页
    6.2 研究展望第60-62页
致谢第62-63页
参考文献第63-68页
作者在学期间取得的学术成果第68页

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