| 摘要 | 第6-8页 |
| Abstract | 第8-9页 |
| 第1章 绪论 | 第13-22页 |
| 1.1 背景与意义 | 第13-16页 |
| 1.2 大容量IGBT模块特性测试研究现状 | 第16-20页 |
| 1.2.1 大容量IGBT测试内容 | 第16-18页 |
| 1.2.2 大容量IGBT动态测试方法及典型应用 | 第18-20页 |
| 1.3 研究内容 | 第20-22页 |
| 第2章 大容量IGBT模块动态特性测试平台硬件设计 | 第22-35页 |
| 2.1 大容量IGBT动态测试平台方案设计 | 第22-28页 |
| 2.1.1 系统结构 | 第22页 |
| 2.1.2 平台功能 | 第22-27页 |
| 2.1.3 平台结构 | 第27-28页 |
| 2.2 动态测试平台测试设计 | 第28-30页 |
| 2.2.1 母线电压计算 | 第28页 |
| 2.2.2 负载电感设计 | 第28-30页 |
| 2.3 动态测试平台供电设计 | 第30-34页 |
| 2.3.1 母线电解电容设计 | 第30-31页 |
| 2.3.2 充电电阻及三相固态继电器设计 | 第31-32页 |
| 2.3.3 交流接触器及整流桥 | 第32-33页 |
| 2.3.4 变压器容量设计 | 第33页 |
| 2.3.5 放电电阻及放电继电器 | 第33-34页 |
| 2.4 本章小结 | 第34-35页 |
| 第3章 测试平台控制策略 | 第35-48页 |
| 3.1 H桥拓扑闭环控制 | 第35-41页 |
| 3.1.1 H桥拓扑建模 | 第35-37页 |
| 3.1.2 电流闭环控制 | 第37-39页 |
| 3.1.3 功率传输影响因素 | 第39-41页 |
| 3.2 死区效应及补偿 | 第41-47页 |
| 3.2.1 死区产生原因 | 第41-42页 |
| 3.2.2 死区补偿必要性 | 第42-43页 |
| 3.2.3 死区补偿方法 | 第43-46页 |
| 3.2.4 补偿前后实验对比 | 第46-47页 |
| 3.3 本章小结 | 第47-48页 |
| 第4章 工况复现平台基本功能实验及分析 | 第48-61页 |
| 4.1 工况复现平台功率控制 | 第48-49页 |
| 4.2 双脉冲测试 | 第49-57页 |
| 4.2.1 待测器件主要参数及测试条件设定 | 第50-51页 |
| 4.2.2 实验结果与分析 | 第51-57页 |
| 4.3 不同工况功率传输 | 第57-60页 |
| 4.4 本章小结 | 第60-61页 |
| 第5章 基于热敏感电参数的IGBT结温在线提取研究 | 第61-82页 |
| 5.1 IGBT功率损耗理论计算 | 第61-66页 |
| 5.1.1 IGBT开关损耗 | 第61-63页 |
| 5.1.2 反并联二极管关断损耗 | 第63-64页 |
| 5.1.3 IGBT导通损耗 | 第64-65页 |
| 5.1.4 反并联二极管导通损耗 | 第65-66页 |
| 5.2 IGBT关断过程中电压v_(eE)分析 | 第66-68页 |
| 5.3 热敏感电参数与NTC对比实验 | 第68-73页 |
| 5.4 IGBT功率损耗及结温在线提取 | 第73-81页 |
| 5.5 本章小结 | 第81-82页 |
| 第6章 总结与展望 | 第82-84页 |
| 6.1 论文工作总结 | 第82-83页 |
| 6.2 今后工作展望 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-90页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第90-91页 |
| 致谢 | 第91页 |