基于全变差正则化法的腔内电阻抗成像逆问题研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| ·腔内电阻抗成像的研究意义 | 第8-9页 |
| ·腔内电阻抗成像国内外研究概况 | 第9-10页 |
| ·EIE计算方法概述 | 第10-12页 |
| ·EIE正问题计算方法概述 | 第10页 |
| ·EIE逆问题计算方法概述 | 第10-12页 |
| ·本论文主要工作 | 第12-14页 |
| 第二章 腔内电阻抗成像正问题边界元法研究 | 第14-28页 |
| ·EIE正问题描述 | 第14-15页 |
| ·EIE正问题边界元求解 | 第15-18页 |
| ·边界元法基础知识 | 第16页 |
| ·二维边界积分方程 | 第16-18页 |
| ·边界离散与插值 | 第18-19页 |
| ·线性方程组的形成 | 第19-21页 |
| ·EIE正问题求解 | 第21-22页 |
| ·EIE分层均匀多媒质场的边界元计算 | 第22-24页 |
| ·EIE正问题求解结果与分析 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-28页 |
| 第三章 腔内电阻抗成像边界重建初始估计 | 第28-36页 |
| ·牛顿迭代法原理 | 第28-29页 |
| ·单步电导率重建 | 第29-30页 |
| ·灵敏度系数矩阵的求取 | 第30-31页 |
| ·实验结果与分析 | 第31-33页 |
| ·预处理过程 | 第31-32页 |
| ·处理过程 | 第32-33页 |
| ·本章小节 | 第33-36页 |
| 第四章 基于全变差正则化法的EIE参数化方法研究 | 第36-50页 |
| ·EIE参数化方法 | 第36-37页 |
| ·雅可比矩阵的计算 | 第37-41页 |
| ·基于互易定理方法计算雅可比矩阵 | 第38-39页 |
| ·雅可比矩阵计算结果比较 | 第39-41页 |
| ·全变差正则化技术 | 第41-43页 |
| ·变差函数的引入 | 第42页 |
| ·EIE逆问题的全变差正则化方法 | 第42-43页 |
| ·全变差正则化参数选择 | 第43-44页 |
| ·EIE逆问题仿真分析 | 第44-48页 |
| ·本章小结 | 第48-50页 |
| 第五章 结论与展望 | 第50-52页 |
| 参考文献 | 第52-56页 |
| 攻读硕士期间取得的相关科研成果 | 第56-58页 |
| 致谢 | 第58页 |
