面向电子元器件质量控制的关键技术与系统研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-22页 |
| ·研究背景及意义 | 第10-12页 |
| ·研究背景 | 第10页 |
| ·研究意义 | 第10-12页 |
| ·国内外研究现状 | 第12-18页 |
| ·统计过程控制研究现状 | 第12-15页 |
| ·质量数据采集技术研究现状 | 第15-16页 |
| ·控制图模式识别研究现状 | 第16-18页 |
| ·研究内容及论文结构 | 第18-22页 |
| 第2章 电子元器件生产过程工艺质量研究 | 第22-36页 |
| ·电子元器件行业生产现状分析 | 第22-25页 |
| ·生产特点分析 | 第22-23页 |
| ·生产信息载体分析 | 第23-25页 |
| ·电子元器件生产工艺流程分析 | 第25-26页 |
| ·电子元器件检验流程分析 | 第26-30页 |
| ·原材料质量检验流程分析 | 第26-29页 |
| ·制造过程质量检验流程分析 | 第29页 |
| ·成品质量检验流程分析 | 第29-30页 |
| ·质量管理及控制问题分析 | 第30-32页 |
| ·基于关键工序的产品质量控制 | 第32-34页 |
| ·刻槽工序控制 | 第33页 |
| ·点焊工序控制 | 第33-34页 |
| ·精调工序控制 | 第34页 |
| ·本章小结 | 第34-36页 |
| 第3章 电子元器件行业质量信息管理技术研究 | 第36-50页 |
| ·质量信息分析 | 第36-40页 |
| ·质量信息来源 | 第36-37页 |
| ·质量信息结构分析 | 第37-40页 |
| ·质量信息采集技术研究 | 第40-43页 |
| ·质量信息采集方法 | 第40-42页 |
| ·基于条形码的信息采集 | 第42-43页 |
| ·面向对象的质量信息建模技术 | 第43-45页 |
| ·质量信息管理系统总体设计思想 | 第45-48页 |
| ·系统的数据要求 | 第45-46页 |
| ·系统的基本功能 | 第46-47页 |
| ·系统体系结构设计 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-50页 |
| 第4章 面向电子元器件的质量控制方法研究 | 第50-70页 |
| ·统计过程控制基础理论 | 第50-56页 |
| ·控制图简介 | 第50-51页 |
| ·控制图的基本功能 | 第51页 |
| ·控制图的理论基础 | 第51-53页 |
| ·常用控制图统计基础 | 第53-56页 |
| ·质量控制图在电子元器件行业应用的局限性 | 第56-57页 |
| ·电子元器件行业质量控制图应用研究 | 第57-65页 |
| ·相似工序分组方法研究 | 第57-58页 |
| ·基于相似工序的质量数据转换 | 第58-63页 |
| ·工序过程能力分析 | 第63-65页 |
| ·应用举例 | 第65-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 第5章 电子元器件控制图模式识别技术研究 | 第70-88页 |
| ·控制图异常模式研究 | 第70-79页 |
| ·工序质量异常原因分析 | 第70-71页 |
| ·异常模式介绍 | 第71-77页 |
| ·特殊异常模式数学建模 | 第77-79页 |
| ·基于 BP 神经网络的控制图异常模式识别 | 第79-84页 |
| ·BP 神经网络简介 | 第79-81页 |
| ·控制图模式识别网络设计 | 第81-84页 |
| ·实例验证 | 第84-86页 |
| ·本章小结 | 第86-88页 |
| 第6章 质量管理及控制系统应用实例 | 第88-102页 |
| ·系统的开发环境 | 第88-89页 |
| ·开发平台 | 第88页 |
| ·开发语言 | 第88页 |
| ·数据库 | 第88-89页 |
| ·系统总体结构 | 第89-90页 |
| ·系统功能设计 | 第90-100页 |
| ·基础信息管理 | 第90-92页 |
| ·原材料质量管理 | 第92-94页 |
| ·制造过程质量管理 | 第94-95页 |
| ·成品质量管理 | 第95-98页 |
| ·统计过程控制管理 | 第98-100页 |
| ·本章小结 | 第100-102页 |
| 总结与展望 | 第102-104页 |
| 参考文献 | 第104-108页 |
| 攻读学位期间发表论文与研究成果清单 | 第108-110页 |
| 致谢 | 第110页 |
