RISC处理器及其加固研究与设计
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-9页 |
| ·本文的研究背景及现状 | 第7页 |
| ·本文的研究目的及意义 | 第7-8页 |
| ·本文的主要内容及其结构 | 第8-9页 |
| 第二章 处理器体系结构分析 | 第9-19页 |
| ·处理器基本功能 | 第9页 |
| ·处理器指令系统 | 第9-11页 |
| ·处理器指令类型 | 第10页 |
| ·处理器指令的组成 | 第10-11页 |
| ·处理器结构实例介绍 | 第11-14页 |
| ·CISC体系架构 | 第14-16页 |
| ·CICS介绍 | 第14-15页 |
| ·指令二八法则 | 第15页 |
| ·冯诺曼架构 | 第15-16页 |
| ·RISC体系架构 | 第16-18页 |
| ·CISC和RISC 对比 | 第18-19页 |
| 第三章 基于 Verilog 的处理器RTL实现 | 第19-33页 |
| ·处理器总体设计 | 第19-22页 |
| ·总线结构 | 第19页 |
| ·流水线设计 | 第19-21页 |
| ·模块化结构设计 | 第21-22页 |
| ·处理器指令集支持 | 第22-24页 |
| ·寄存器类型指令 | 第22-23页 |
| ·立即数类型指令 | 第23页 |
| ·跳转类型指令 | 第23-24页 |
| ·空操作类型指令 | 第24页 |
| ·处理器模块化设计 | 第24-31页 |
| ·逻辑运算器 | 第24-26页 |
| ·程序计数器 | 第26页 |
| ·程序存储器 | 第26-27页 |
| ·译码控制器 | 第27-28页 |
| ·运算选择器 | 第28-29页 |
| ·存储回写器 | 第29-30页 |
| ·寄存器堆 | 第30-31页 |
| ·处理器模块化验证 | 第31-33页 |
| 第四章 处理器的故障研究 | 第33-41页 |
| ·数字电路设计中的故障类型 | 第33-37页 |
| ·软错误 | 第33-34页 |
| ·工艺偏差 | 第34-36页 |
| ·生产缺陷 | 第36页 |
| ·老化 | 第36-37页 |
| ·单粒子效应 | 第37-41页 |
| ·单粒子效应类型 | 第37-38页 |
| ·单粒子翻转 | 第38页 |
| ·时序电路中单粒子翻转效应 | 第38-39页 |
| ·组合电路中单粒子翻转效应 | 第39-41页 |
| 第五章 处理器的冗余加固实现 | 第41-55页 |
| ·处理器加固技术 | 第41-43页 |
| ·处理器错误类型 | 第41页 |
| ·加固的冗余设计 | 第41-42页 |
| ·处理器加固工作流程 | 第42-43页 |
| ·处理器加固实现 | 第43-49页 |
| ·海明码校验加固实现 | 第43-46页 |
| ·三模冗余加固实现 | 第46-49页 |
| ·海明码编码与三模冗余加固的验证 | 第49-50页 |
| ·海明码编码加固的验证 | 第49页 |
| ·三模冗余加固的验证 | 第49-50页 |
| ·海明码与三模冗余加固的比较 | 第50-55页 |
| ·海明码加固总结 | 第50-51页 |
| ·三模冗余加固总结 | 第51-52页 |
| ·两种加固方法对比总结 | 第52-55页 |
| 第六章 总结与展望 | 第55-57页 |
| ·总结 | 第55页 |
| ·展望 | 第55-57页 |
| 致谢 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
