| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第11-13页 |
| ·国内外研究现状 | 第13-16页 |
| ·本文的主要目的及工作内容安排 | 第16-17页 |
| 第二章 动态电压调节技术原理及简介 | 第17-33页 |
| ·数字电路功耗的产生和分类 | 第17-21页 |
| ·CMOS 反相器功耗的组成 | 第17-20页 |
| ·功耗与电压的关系 | 第20页 |
| ·电路延迟与电压的关系 | 第20-21页 |
| ·常见 SOC 低功耗设计技术 | 第21-32页 |
| ·工艺级低功耗技术 | 第21-22页 |
| ·电路系统级低功耗技术 | 第22-32页 |
| ·动态功耗管理 | 第22-23页 |
| ·动态电压调制 | 第23-24页 |
| ·自适应电压调制 | 第24-29页 |
| ·检错纠错自适应电压调制 | 第29-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 检错纠错自适应电压调制技术结构的设计与验证 | 第33-50页 |
| ·检错纠错自适应电压调制技术的运行机制 | 第33-35页 |
| ·多级流水线技术 | 第33页 |
| ·时序错误的检测与修复 | 第33-35页 |
| ·验证系统的原理与设计实现 | 第35-41页 |
| ·验证系统的原理 | 第35-36页 |
| ·验证系统的组成模块 | 第36-41页 |
| ·验证系统的仿真与实现 | 第41-49页 |
| ·验证系统的仿真方法 | 第41-46页 |
| ·采用 HSPICE 或 HSIM 进行仿真 | 第41页 |
| ·采用 Synopsis NCX 进行再特征化仿真 | 第41-46页 |
| ·验证系统的仿真结果及讨论 | 第46-47页 |
| ·验证系统的实现 | 第47-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 改进检错纠错自适应电压调制系统的设计与仿真 | 第50-66页 |
| ·改进检错纠错自适应电压调制系统的运行机制 | 第50-51页 |
| ·处理器结构的流水线分析 | 第50页 |
| ·改进检错纠错自适应电压调制技术的原理 | 第50-51页 |
| ·改进检错纠错自适应电压调制系统的结构与机制 | 第51-65页 |
| ·Stage FF 模块设计 | 第51-54页 |
| ·流水线结构的模拟系统设计 | 第54-60页 |
| ·执行级 | 第55-56页 |
| ·取指级 | 第56-57页 |
| ·指令译码级 | 第57-58页 |
| ·访问存储器级 | 第58-59页 |
| ·回写级 | 第59-60页 |
| ·流水线结构模拟系统仿真 | 第60-62页 |
| ·仿真概述 | 第60-61页 |
| ·占空比的折中 | 第61-62页 |
| ·仿真结果分析 | 第62-65页 |
| ·对电源供电电压调节机制的探讨 | 第63-64页 |
| ·功耗仿真分析 | 第64-65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 第五章 结论及展望 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第72-73页 |
