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基于可扩展标准单元的电路设计方法研究

致谢第1-6页
摘要第6-7页
Abstract第7-8页
目录第8-10页
图索引第10-11页
表索引第11-12页
1 绪论第12-23页
   ·研究背景和意义第12-13页
   ·集成电路设计方法研究第13-20页
     ·全定制设计方法第13-15页
     ·半定制设计方法第15-17页
     ·基于标准单元的半定制设计流程第17-20页
   ·文主要创新点第20-21页
   ·本文主要研究工作第21-22页
   ·本文主要工作和章节安排第22-23页
2 关键路径与逻辑功效建模第23-32页
   ·逻辑功效模型第23-27页
   ·关键路径分析与优化算法第27-31页
     ·关键路径分析第27-28页
     ·关键路径优化算法第28-31页
   ·本章小结第31-32页
3 可扩展标准单元设计第32-52页
   ·标准单元的扩展第32-36页
     ·标准单元简介第32-35页
     ·标准单元扩展第35-36页
   ·可扩展标准单元的版图设计第36-51页
     ·扩展单元单元版图设计方法第36-39页
     ·扩展单元版图设计自动化第39-49页
     ·物理验证第49-51页
   ·本章小结第51-52页
4 可扩展单元的半定制流程研究第52-56页
   ·扩展单元特征化第52-54页
     ·寄生参数提取第52页
     ·时序信息提取第52-54页
     ·其他参数息提取第54页
   ·扩展单元milkyway数据库第54-55页
   ·本章小结第55-56页
5 物理设计实验第56-61页
   ·CPU的物理设计第56-59页
   ·CPU性能分析比较第59页
   ·本章小结第59-61页
6 总结与展望第61-63页
参考文献第63-66页
作者简介第66-67页
作者攻读硕学位期间发表的论文和专利第67页

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