| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-16页 |
| ·课题来源及研究意义 | 第9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-13页 |
| ·PCB 数据转换技术现状 | 第9-11页 |
| ·PCB 数据可测试检测现状 | 第11-12页 |
| ·测试数据准备现状 | 第12-13页 |
| ·主要研究内容 | 第13-14页 |
| ·主要工作及创新点 | 第14页 |
| ·章节安排 | 第14-16页 |
| 2 系统总体方案设计 | 第16-23页 |
| ·系统应用环境分析 | 第16-18页 |
| ·自动测试系统 | 第16-18页 |
| ·自动测试系统中数据转换及可测试性检测 | 第18页 |
| ·系统设计思想的选取 | 第18-19页 |
| ·传统设计思想的弊端 | 第18页 |
| ·新型设计思想的探索 | 第18-19页 |
| ·系统的总体架构及功能模块 | 第19-22页 |
| ·系统总体架构 | 第19-21页 |
| ·PCB 数据转换模块 | 第21页 |
| ·可测试性检测模块 | 第21页 |
| ·测试数据准备模块 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 3 PCB 数据转换的实现 | 第23-44页 |
| ·基本概念 | 第23-24页 |
| ·常见 PCB 文件的数据分析 | 第24-36页 |
| ·Protel PCB 文件的数据分析 | 第24-28页 |
| ·Mentor Graphics PCB 文件的数据分析 | 第28-30页 |
| ·Cadence PCB 文件的数据分析 | 第30-35页 |
| ·文件内容相似性比较 | 第35-36页 |
| ·文件数据存储结构的比较 | 第36页 |
| ·数据转换标准 | 第36-37页 |
| ·通用数据存储结构设计 | 第37-38页 |
| ·数据转换的原理 | 第38-39页 |
| ·数据转换流程 | 第39-42页 |
| ·数据转换的实现 | 第42-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 4 可测试性检测的实现 | 第44-53页 |
| ·可测试性概念 | 第44页 |
| ·可测试性规则的制定 | 第44-47页 |
| ·可测试性检测的实现 | 第47-50页 |
| ·可测试性检测流程 | 第47-48页 |
| ·可测性检测实现 | 第48-50页 |
| ·数据库的建立 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 5 测试文件准备 | 第53-59页 |
| ·测试文件准备流程 | 第53-54页 |
| ·原始测试文件的生成 | 第54-55页 |
| ·测试文件的优化 | 第55-58页 |
| ·旅行商问题 | 第56页 |
| ·TSP 问题数学模型 | 第56页 |
| ·蚁群算法 | 第56-57页 |
| ·优化原理及过程 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 6 实验及结果分析 | 第59-66页 |
| ·PCB 数据转换实验 | 第59-62页 |
| ·数据转换误差分析和控制 | 第62-63页 |
| ·测试文件优化实验 | 第63-65页 |
| ·结果分析 | 第65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 7 总结及展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及所取得的研究成果 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72页 |