数字集成电路功能验证中的变异测试方法研究
| 摘要 | 第1-9页 |
| ABSTRACT | 第9-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-15页 |
| ·引言 | 第11-12页 |
| ·研究内容 | 第12-13页 |
| ·论文的主要工作 | 第13页 |
| ·组织结构 | 第13-15页 |
| 第2章 相关研究介绍 | 第15-27页 |
| ·数字集成电路的功能验证 | 第15-21页 |
| ·数字集成电路设计综述 | 第16-18页 |
| ·功能验证简介 | 第18-20页 |
| ·功能验证中的关键问题 | 第20-21页 |
| ·变异测试技术 | 第21-24页 |
| ·变异测试基本概念 | 第21-23页 |
| ·变异测试技术流程 | 第23页 |
| ·变异测试技术的发展 | 第23-24页 |
| ·变异测试技术在数字集成电路功能验证中的应用 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-27页 |
| 第3章 硬件变异测试系统的设计 | 第27-39页 |
| ·系统整体设计 | 第27-28页 |
| ·变异运算符的设计 | 第28-33页 |
| ·变异体生成模块的设计 | 第33-36页 |
| ·待变异原始文件读入 | 第33-34页 |
| ·变异操作位置控制 | 第34-35页 |
| ·变异生成 | 第35-36页 |
| ·杀死变异体模块的设计 | 第36页 |
| ·覆盖率评估模块的设计 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-39页 |
| 第4章 硬件变异测试系统的实现 | 第39-53页 |
| ·Verilog编程接口的介绍 | 第39-42页 |
| ·VPI数据模型图 | 第40页 |
| ·VPI函数 | 第40-42页 |
| ·变异运算符的算法实现 | 第42-46页 |
| ·变异体生成模块的实现 | 第46-51页 |
| ·待变异原始文件读入的实现 | 第47-48页 |
| ·变异操作位置控制的实现 | 第48-49页 |
| ·变异生成的实现 | 第49-51页 |
| ·杀死变异体模块的实现 | 第51页 |
| ·覆盖率评估模块的实现 | 第51页 |
| ·本章小结 | 第51-53页 |
| 第5章 基于变异测试系统评判验证质量 | 第53-63页 |
| ·试验环境 | 第53页 |
| ·实验程序简介 | 第53页 |
| ·实验步骤 | 第53-59页 |
| ·生成激励 | 第54页 |
| ·基于常规方法统计语句覆盖率 | 第54-55页 |
| ·基于变异测试系统统计变异错误覆盖率 | 第55-59页 |
| ·实验结果分析 | 第59-61页 |
| ·本章小结 | 第61-63页 |
| 第6章 总结与展望 | 第63-65页 |
| ·全文总结 | 第63页 |
| ·未来的发展方向 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第68页 |
