| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 文献综述 | 第8-21页 |
| ·前言 | 第8页 |
| ·天然气的利用现状 | 第8-11页 |
| ·甲烷水蒸气重整工艺 | 第10页 |
| ·二氧化碳重整工艺 | 第10页 |
| ·联合重整工艺 | 第10-11页 |
| ·甲烷部分氧化工艺 | 第11页 |
| ·甲烷部分氧化的反应机理 | 第11-14页 |
| ·间接反应机理 | 第12-13页 |
| ·直接氧化机理 | 第13-14页 |
| ·甲烷部分氧化反应催化剂研究现状 | 第14-19页 |
| ·贵金属催化剂 | 第14-15页 |
| ·非贵金属催化剂 | 第15-16页 |
| ·助剂的添加 | 第16-18页 |
| ·非负载型金属催化剂 | 第18-19页 |
| ·反应条件对甲烷部分氧化的影响 | 第19-20页 |
| ·反应温度的影响 | 第19页 |
| ·气体空速的影响 | 第19页 |
| ·反应体系压力的影响 | 第19-20页 |
| ·甲烷氧气配比的影响 | 第20页 |
| ·课题研究内容及意义 | 第20-21页 |
| ·研究内容 | 第20页 |
| ·课题意义 | 第20-21页 |
| 第二章 实验部分 | 第21-30页 |
| ·实验原料及仪器 | 第21-22页 |
| ·镍基催化剂的制备 | 第22-23页 |
| ·制备工艺 | 第22页 |
| ·制备步骤 | 第22-23页 |
| ·甲烷部分氧化反应实验 | 第23-27页 |
| ·实验装置 | 第23-25页 |
| ·实验流程与数据计算 | 第25页 |
| ·分析方法 | 第25-27页 |
| ·催化剂物性表征 | 第27-30页 |
| ·粒度分析 | 第28页 |
| ·X射线衍射(XRD)测定 | 第28页 |
| ·环境扫描电子显微镜（ESEM）表征 | 第28页 |
| ·催化剂还原性能表征（TPR） | 第28-30页 |
| 第三章 整体型镍基催化剂制备、表征与活性评价 | 第30-40页 |
| ·引言 | 第30页 |
| ·催化剂制备 | 第30-35页 |
| ·分散剂的选择 | 第30-31页 |
| ·镍粉原料粒度及分布 | 第31页 |
| ·分散剂聚乙二醇的去除 | 第31-34页 |
| ·还原与烧结条件 | 第34-35页 |
| ·聚乙二醇添加量对催化剂性能的影响 | 第35-36页 |
| ·整体型镍基催化剂表征 | 第36-39页 |
| ·X射线衍射(XRD)表征 | 第37-38页 |
| ·环境扫描电镜（ESEM）表征 | 第38-39页 |
| ·小结 | 第39-40页 |
| 第四章 二氧化铈对镍基整体型催化剂的改性作用研究 | 第40-55页 |
| ·引言 | 第40页 |
| ·整体型Ni-CeO_2催化剂的制备 | 第40-42页 |
| ·助剂的选择 | 第40-41页 |
| ·整体型Ni-CeO_2催化剂的制备 | 第41-42页 |
| ·CeO_2的添加方式对催化剂性能的影响 | 第42-51页 |
| ·添加方式对催化剂表面结构及稳定性的影响 | 第42-45页 |
| ·添加方式对催化剂晶粒大小的影响 | 第45-46页 |
| ·添加方式对催化剂分散性的影响 | 第46-49页 |
| ·添加方式对催化剂活性的影响 | 第49-51页 |
| ·CeO_2的添加量对催化剂活性的影响 | 第51-52页 |
| ·CeO_2的添加对催化剂还原性能的影响 | 第52页 |
| ·整体型Ni-CeO_2催化剂X射线衍射表征 | 第52-54页 |
| ·整体型Ni-CeO_2催化剂活性评价结果 | 第54页 |
| ·小结 | 第54-55页 |
| 第五章 整体型Ni-CeO_2催化剂甲烷部分氧化反应研究 | 第55-60页 |
| ·引言 | 第55页 |
| ·Ni-CeO_2催化剂甲烷部分氧化工艺研究 | 第55-58页 |
| ·反应温度的影响 | 第55-56页 |
| ·CH_4/O_2配比的影响 | 第56-57页 |
| ·空速的影响 | 第57-58页 |
| ·Ni-CeO_2催化剂反应稳定性实验 | 第58页 |
| ·小结 | 第58-60页 |
| 第六章 结论 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 附录一 TPR空白实验 | 第65-66页 |
| 附录二 标准合成气气相色图谱 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |