| 致谢 | 第1-10页 |
| 摘要 | 第10-11页 |
| ABSTRACT | 第11-14页 |
| 第一章 引言 | 第14-25页 |
| ·研究背景和现状 | 第14-17页 |
| ·研究目的 | 第17-18页 |
| ·本文的内容和贡献 | 第18-19页 |
| ·本文的组织结构 | 第19-21页 |
| 参考文献 | 第21-25页 |
| 第二章 电荷泵型锁相环的Z域建模 | 第25-49页 |
| ·电荷泵型锁相环的线性模型 | 第25-34页 |
| ·鉴频鉴相器和电荷泵电路的线性模型 | 第26-27页 |
| ·环路滤波器(LPF) | 第27-29页 |
| ·压控振荡器(VCO)的线性模型 | 第29页 |
| ·分频器的线性模型 | 第29页 |
| ·整数分频电荷泵型锁相环的线性分析 | 第29-30页 |
| ·三阶二类CP-PLL的传递函数 | 第30-33页 |
| ·环路滤波器的控制系统的解释 | 第33-34页 |
| ·电荷泵型锁相环的离散模型 | 第34-45页 |
| ·Gardner的模型 | 第34-36页 |
| ·Hein的模型 | 第36-37页 |
| ·新型的z域模型 | 第37-45页 |
| ·新型z域模型对电路设计的意义 | 第45-46页 |
| ·总结 | 第46-47页 |
| 参考文献 | 第47-49页 |
| 第三章 电荷泵锁相环中噪声抖动的z域分析 | 第49-74页 |
| ·相位噪声和时间抖动 | 第49页 |
| ·相位噪声 | 第49-52页 |
| ·相位功率谱密度 | 第50-51页 |
| ·电压功率谱密度 | 第51页 |
| ·单边带相位噪声 | 第51-52页 |
| ·相位噪声测试原理 | 第52页 |
| ·时间抖动 | 第52-55页 |
| ·周期抖动 | 第53页 |
| ·周期对周期抖动 | 第53-54页 |
| ·绝对抖动 | 第54-55页 |
| ·时间抖动的测试 | 第55页 |
| ·振荡器中相位噪声和时间抖动间的关系 | 第55-63页 |
| ·维纳过程 | 第55-56页 |
| ·维纳过程的数学引出 | 第56-58页 |
| ·随机过程的功率谱 | 第58页 |
| ·相位噪声与时间抖动的解析关系 | 第58-62页 |
| ·解析关系的数值讨论 | 第62-63页 |
| ·振荡器的相位噪声模型 | 第63-64页 |
| ·CP-PLL中时间抖动的z域分析 | 第64-71页 |
| ·留数定理 | 第65页 |
| ·相位噪声和抖动的z域关系 | 第65-66页 |
| ·VCO相位噪声和抖动的z域推导 | 第66页 |
| ·环路的抖动和优化带宽的z域推导 | 第66-71页 |
| ·总结 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-74页 |
| 第四章 新型电流模滤波器CP-PLL设计 | 第74-108页 |
| ·CP-PLL电路设计中面临的挑战及应对 | 第74-75页 |
| ·带宽自适应锁相环 | 第75-81页 |
| ·自偏置技术 | 第76-78页 |
| ·电流模滤波器 | 第78-79页 |
| ·自偏置电流模滤波器 | 第79-81页 |
| ·新型的自偏置电流模环路滤波器 | 第81-86页 |
| ·电路原型图的提出 | 第81-82页 |
| ·改进的电流模环路滤波器 | 第82-86页 |
| ·电荷泵电路 | 第86-87页 |
| ·环形压控振荡器(Ring-VCO)电路 | 第87-93页 |
| ·Negative-skew环形振荡器 | 第88-91页 |
| ·一个低噪声Negative-skew环形振荡器的设计 | 第91-93页 |
| ·分频器电路 | 第93-96页 |
| ·预分频电路(prescaler) | 第93-96页 |
| ·P和S分频器 | 第96页 |
| ·鉴频鉴相器电路 | 第96-98页 |
| ·带宽自适应CP-PLL设计 | 第98-104页 |
| ·自偏置改进型电流模滤波器CP-PLL环路分析 | 第98-100页 |
| ·预充电启动电路 | 第100页 |
| ·环路仿真 | 第100-104页 |
| ·总结 | 第104-105页 |
| 参考文献 | 第105-108页 |
| 第五章 参考时钟电路的分析和设计 | 第108-135页 |
| ·晶体振荡器分析方法 | 第108-109页 |
| ·传递函数法 | 第109页 |
| ·分离阻抗法 | 第109页 |
| ·石英晶体的电学特性 | 第109-112页 |
| ·等效电路 | 第110-111页 |
| ·石英晶体的频率特性 | 第111-112页 |
| ·石英晶体振荡器的电路形式 | 第112-113页 |
| ·石英晶体振荡器的线性分析 | 第113-120页 |
| ·分离阻抗 | 第113页 |
| ·振荡的建立和时间常数 | 第113-115页 |
| ·振荡器的线性小信号分析 | 第115-120页 |
| ·振荡器的非线性分析 | 第120-125页 |
| ·弱反型(weak inversion)V～I关系 | 第120-122页 |
| ·强反型V～I关系 | 第122-125页 |
| ·石英晶体振荡器电路的设计 | 第125-128页 |
| ·电路仿真验证 | 第128-130页 |
| ·线性电阻PMOS的仿真设计 | 第128-129页 |
| ·电压跟随器的仿真设计 | 第129页 |
| ·施密特比较器的设计 | 第129-130页 |
| ·晶体振荡器的仿真技术 | 第130-133页 |
| ·电路的开环AC特性仿真分析 | 第130-131页 |
| ·AC负阻特性仿真分析 | 第131页 |
| ·瞬态阻抗的傅立叶仿真分析 | 第131-132页 |
| ·瞬态时域仿真分析 | 第132-133页 |
| ·总结 | 第133-134页 |
| 参考文献 | 第134-135页 |
| 第六章 芯片及测试 | 第135-148页 |
| ·VCO电路的芯片及测试 | 第135-138页 |
| ·VCO的调谐f～v曲线 | 第136-137页 |
| ·VCO的时间抖动测试 | 第137页 |
| ·VCO低电压特性 | 第137-138页 |
| ·锁相环电路的芯片及测试 | 第138-143页 |
| ·PLL工作范围的测试 | 第139-141页 |
| ·PLL功耗的测试 | 第141页 |
| ·PLL抖动性能的测试及比较 | 第141-142页 |
| ·PLL低电压特性的测试 | 第142-143页 |
| ·时钟电路的芯片及测试 | 第143-146页 |
| ·振荡器工作频率的测试 | 第144-146页 |
| ·振荡器抖动性能的测试及比较 | 第146页 |
| ·总结 | 第146-147页 |
| 参考文献 | 第147-148页 |
| 第七章 总结和展望 | 第148-152页 |
| ·结论 | 第148-149页 |
| ·工作中的不足和展望 | 第149-152页 |
| 攻读博士期间发表的论文列表 | 第152-153页 |