一种疏松多孔隔热材料的同面阵列电容成像检测技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-19页 |
| 1.1 课题研究的目的和意义 | 第10-11页 |
| 1.2 常用无损检测技术 | 第11-13页 |
| 1.2.1 液体渗透检测技术 | 第11页 |
| 1.2.2 超声检测技术 | 第11-12页 |
| 1.2.3 涡流检测技术 | 第12页 |
| 1.2.4 工业计算机断层成像技术 | 第12-13页 |
| 1.2.5 热红外检测技术 | 第13页 |
| 1.3 电容成像技术发展现状 | 第13-17页 |
| 1.3.1 ECT技术国内外发展现状 | 第13-15页 |
| 1.3.2 同面阵列电容成像技术国内外发展现状 | 第15-17页 |
| 1.4 本文的主要研究内容 | 第17-19页 |
| 第2章 同面阵列电容成像传感及系统 | 第19-28页 |
| 2.1 同面阵列电容传感器的工作原理 | 第19-20页 |
| 2.1.1 同面电容传感器的边缘效应 | 第19-20页 |
| 2.1.2 同面电容传感器的感应原理 | 第20页 |
| 2.2 同面阵列电容成像技术敏感场研究 | 第20-23页 |
| 2.2.1 ECT敏感场的数学描述 | 第20-21页 |
| 2.2.2 ECT的正问题 | 第21-22页 |
| 2.2.3 ECT的逆问题 | 第22页 |
| 2.2.4 敏感场的“软场”特性描述 | 第22-23页 |
| 2.3 图像重建算法 | 第23-25页 |
| 2.3.1 图像重建准则 | 第23-24页 |
| 2.3.2 图像重建算法 | 第24-25页 |
| 2.4 同面阵列电容成像系统 | 第25-27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 同面阵列电容传感器的敏感场建模与分析 | 第28-45页 |
| 3.1 基于有限元法的敏感场求解 | 第28-29页 |
| 3.1.1 有限元法概述 | 第28页 |
| 3.1.2 同面阵列电极敏感场计算 | 第28-29页 |
| 3.2 基于ANSYS的敏感场建模 | 第29-32页 |
| 3.3 敏感场的分层划分研究 | 第32-38页 |
| 3.4 敏感场的分块划分研究 | 第38-40页 |
| 3.5 介电常数对灵敏度矩阵的影响 | 第40-44页 |
| 3.6 本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 基于同面阵列电容成像技术的检测实验 | 第45-62页 |
| 4.1 空/满场设定方法研究 | 第45-51页 |
| 4.1.1 空场设定方法研究 | 第45-47页 |
| 4.1.2 基于被测物场旋转的空满场设定 | 第47-51页 |
| 4.2 检测系统的性能探究实验 | 第51-57页 |
| 4.2.1 缺陷间的识别距离 | 第51-54页 |
| 4.2.2 识别的最小缺陷 | 第54-57页 |
| 4.3 移动测量探究实验 | 第57-61页 |
| 4.4 本章小结 | 第61-62页 |
| 结论 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-69页 |
| 攻读硕士学位期间承担的科研任务与主要成果 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
