基于IEEE标准的SOC测试调度控制网络的研究与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-20页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第16-17页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第17-19页 |
| 1.3 章节安排 | 第19-20页 |
| 第二章 IEEE标准简介 | 第20-36页 |
| 2.1 IEEE 1149.7标准 | 第20-30页 |
| 2.1.1 T0层级 | 第21-23页 |
| 2.1.2 T1层级 | 第23-24页 |
| 2.1.3 T2层级 | 第24-26页 |
| 2.1.4 T3层级 | 第26-27页 |
| 2.1.5 T4层级 | 第27-29页 |
| 2.1.6 T5层级 | 第29-30页 |
| 2.2 IEEE 1687标准 | 第30-32页 |
| 2.3 IEEE 1500标准 | 第32-34页 |
| 2.4 本章小结 | 第34-36页 |
| 第三章 测试调度控制网络设计方案 | 第36-40页 |
| 3.1 测试调度控制网络需求分析 | 第36-37页 |
| 3.2 测试调度控制网络设计方案 | 第37-39页 |
| 3.3 本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 功能模块设计 | 第40-66页 |
| 4.1 DFX控制器 | 第40-44页 |
| 4.2 CLTAPC控制器 | 第44-48页 |
| 4.3 HOST控制器 | 第48-50页 |
| 4.4 LVTAP控制器 | 第50-55页 |
| 4.5 WTAP控制器 | 第55-60页 |
| 4.6 TAP控制网络 | 第60-62页 |
| 4.7 SIB控制网络 | 第62-65页 |
| 4.8 本章小结 | 第65-66页 |
| 第五章 测试调度控制网络的仿真验证 | 第66-80页 |
| 5.1 测试点分析 | 第66-67页 |
| 5.2 测试平台搭建 | 第67-69页 |
| 5.3 仿真验证 | 第69-78页 |
| 5.3.1 TAP.1 | 第70页 |
| 5.3.2 CLTAPC_REG_ACC | 第70-71页 |
| 5.3.3 EMTAPC_REG_ACC | 第71-72页 |
| 5.3.4 CLTAPC_SELECT | 第72-74页 |
| 5.3.5 CLTAPC_REMOVE | 第74-75页 |
| 5.3.6 WTAP_NW | 第75-76页 |
| 5.3.7 SIB_NW | 第76-78页 |
| 5.4 本章小结 | 第78-80页 |
| 第六章 总结与展望 | 第80-82页 |
| 6.1 工作总结 | 第80页 |
| 6.2 研究展望 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-86页 |
| 致谢 | 第86-88页 |
| 作者简介 | 第88-89页 |
