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合金化对α-Nb5Si3性能的影响--第一性原理计算与实验研究

摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
图清单第10-12页
表清单第12-13页
第一章 绪论第13-23页
    1.1 研究背景第13-14页
    1.2 高温铌硅化合物的性能特点第14-16页
        1.2.1 铌硅二元相图第14页
        1.2.2 NbSi_2的性能特点及氧化行为第14-15页
        1.2.3 Nb_5Si_3的晶体结构和性能第15-16页
    1.3 提高 Nb_5Si_3性能的措施第16-18页
        1.3.1 合金化第16-17页
        1.3.2 复合化第17-18页
        1.3.3 纳米化第18页
    1.4 Nb_5Si_3材料的理论研究方法及进展第18-20页
        1.4.1 Nb_5Si_3的理论研究方法第18-19页
        1.4.2 Nb_5Si_3的理论研究现状第19-20页
    1.5 Nb_5Si_3及其复合材料的制备技术第20-22页
        1.5.1 电弧熔炼第20页
        1.5.2 热压烧结和热等静压烧结第20-21页
        1.5.3 光学悬浮单晶生长技术第21页
        1.5.4 自蔓延高温合成技术第21页
        1.5.5 放电等离子烧结(SPS)技术第21页
        1.5.6 等离子溅射沉积第21-22页
    1.6 研究目的、思路及内容第22-23页
第二章 理论基础与计算方法第23-34页
    2.1 引言多粒子体系的薛定谔方程第23-26页
        2.1.1 Born-Oppenheimer 近似—绝热近似第24页
        2.1.2 Hartree-Fock 近似—轨道近似第24-26页
    2.2 密度泛函理论第26-29页
        2.2.1 Hohenberg—Kohn 定理第26页
        2.2.2 Kohn-Sham 方程的自洽计算第26-27页
        2.2.3 局域密度近似(LDA)和广义梯度近似(GGA)第27-28页
        2.2.4 Kohn-Sham 方程的自洽计算第28-29页
    2.3 热力学及弹性理论第29-34页
        2.3.1 形成能和结合能第29-30页
        2.3.2 力学性能第30-34页
第三章 合金化对α-Nb_5Si_3力学性能影响的第一性原理研究第34-47页
    3.1 引言第34页
    3.2 计算模型与参数第34-36页
        3.2.1 计算模型第34-35页
        3.2.2 计算参数第35-36页
    3.3 计算结果及讨论第36-45页
        3.3.1 结构稳定性第36-38页
        3.3.2 弹性模量第38-41页
        3.3.3 韧/脆性第41-43页
        3.3.4 派-纳力τP-N第43-45页
    3.4 本章小结第45-47页
第四章 合金化对α-Nb_5Si_3电子结构影响的第一性原理研究第47-64页
    4.1 引言第47页
    4.2 态密度图第47-57页
        4.2.1 总态密度图(TDOS)第47-48页
        4.2.2 分波态密度图(PDOS)第48-57页
    4.3 电荷密度图第57-59页
    4.4 Mulliken 布居数第59-63页
    4.5 本章小结第63-64页
第五章 Nb_(5-x)CrxSi_3涂层的制备与性能研究第64-75页
    5.1 引言第64页
    5.2 实验材料及实验设备介绍第64-67页
        5.2.1 基体材料第64页
        5.2.2 靶材的制备第64-65页
        5.2.3 实验设备及仪器第65-66页
        5.2.4 涂层的制备第66-67页
    5.3 Nb_(5-x)Cr_xSi_3(x = 0,0.5)纳米晶涂层的组织分析第67-69页
        5.3.1 Nb_(5-x)Cr_xSi_3(x = 0,0.5) 纳米晶涂层的 XRD 分析第67页
        5.3.2 Nb_(5-x)CrxSi_3(x = 0,0.5) 纳米晶涂层横截面的 SEM 分析第67-69页
    5.4 Nb_(5-x)CrxSi_3(X = 0,0.5) 纳米晶涂层的韧性测试第69-70页
    5.5 Nb_(5-x)CrxSi_3(X = 0,0.5) 纳米晶涂层的腐蚀性能第70-74页
        5.5.1 测试仪器及方法介绍第70-71页
        5.5.2 开路电位(OCP)-时间曲线第71页
        5.5.3 动电位极化曲线(Tafel 曲线)第71-72页
        5.5.4 交流阻抗谱(EIS)第72-74页
    5.6 本章小结第74-75页
第六章 结论第75-77页
参考文献第77-85页
致谢第85-86页
在学期间的研究成果及发表的学术论文第86页

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