摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
目录 | 第6-8页 |
第1章 绪论 | 第8-13页 |
1.1 课题背景 | 第8-9页 |
1.2 国内外研究现状 | 第9-10页 |
1.2.1 国际研究现状 | 第9-10页 |
1.2.2 国内研究现状 | 第10页 |
1.3 课题来源及意义 | 第10-11页 |
1.3.1 课题来源 | 第10-11页 |
1.3.2 课题意义 | 第11页 |
1.4 本文主要研究内容 | 第11-13页 |
第2章 脉冲波形参数和不确定度概述 | 第13-22页 |
2.1 脉冲波形参数简介 | 第13-15页 |
2.1.1 概述 | 第13-14页 |
2.1.2 相关脉冲波形参数的定义 | 第14页 |
2.1.3 脉冲波形参数的应用 | 第14-15页 |
2.2 不确定度简介 | 第15-20页 |
2.2.1 不确定度的由来 | 第15-16页 |
2.2.2 ISO 指南概述 | 第16页 |
2.2.3 不确定度的相关术语 | 第16-19页 |
2.2.4 不确定度的评定步骤 | 第19-20页 |
2.3 小结 | 第20-22页 |
第3章 取样示波器工作原理及NTN 校准技术概述 | 第22-29页 |
3.1 取样示波器 | 第22-23页 |
3.1.1 取样示波器工作原理 | 第22-23页 |
3.1.2 取样示波器校准的任务 | 第23页 |
3.2 NTN 校准技术概述 | 第23-27页 |
3.2.1 Nose-to-nose 校准技术理论基础 | 第24-27页 |
3.2.2 NTN 校准技术的优点 | 第27页 |
3.3 小结 | 第27-29页 |
第4章 kick-out 脉冲显示波形不确定度分析 | 第29-64页 |
4.1 影响测量量不确定度的可能因素 | 第30-42页 |
4.1.1 测量重复性 | 第30页 |
4.1.2 连接的重复性 | 第30页 |
4.1.3 NTN 校准技术的有效性 | 第30-31页 |
4.1.4 NTN 校准技术的测量重复性 | 第31页 |
4.1.5 时基抖动的影响 | 第31-32页 |
4.1.6 转接头(同轴适配器)的影响 | 第32页 |
4.1.7 时基漂移 | 第32页 |
4.1.8 信号源偏置电压Offset 变化的影响 | 第32-37页 |
4.1.9 垂直灵敏度变化的影响 | 第37-40页 |
4.1.10 平均次数的影响 | 第40-42页 |
4.1.11 温度变化的影响 | 第42页 |
4.2 kick-out 脉冲显示波形的不确定度分析 | 第42-62页 |
4.2.1 测量重复性引入的不确定度 | 第42-44页 |
4.2.2 连接的重复性引入的不确定度 | 第44-45页 |
4.2.3 NTN 校准技术的有效性引入的不确定度 | 第45-50页 |
4.2.4 NTN 校准技术的测量重复性引入的不确定度 | 第50-53页 |
4.2.5 时基抖动引入的不确定度 | 第53-58页 |
4.2.6 转接头(同轴适配器)引入的不确定度 | 第58-60页 |
4.2.7 时基漂移引入的不确定度 | 第60-62页 |
4.3 小结 | 第62-64页 |
第5章 数据处理算法引入的不确定度传递方法 | 第64-77页 |
5.1 数据处理算法流程概述 | 第64-66页 |
5.2 不确定度经数据处理算法的传递 | 第66-76页 |
5.2.1 不确定度经FFT 算法的传递 | 第66-69页 |
5.2.2 不确定度经IFFT 算法的传递 | 第69-70页 |
5.2.3 正负波形相减除2 的不确定度传递 | 第70页 |
5.2.4 不确定度经乘、除法的传递 | 第70-71页 |
5.2.5 不确定度经开方的传递 | 第71页 |
5.2.6 直方图法计算脉冲过渡时间的不确定度传递 | 第71-75页 |
5.2.7 线性内插算法计算带宽的不确定度传递 | 第75-76页 |
5.3 小结 | 第76-77页 |
第6章 脉冲过渡时间和带宽不确定度的评定结果 | 第77-82页 |
6.1 不确定度实验基本情况 | 第77-79页 |
6.1.1 不确定度实验列表 | 第77页 |
6.1.2 不确定度实验设备 | 第77-78页 |
6.1.3 不确定度实验连接 | 第78-79页 |
6.2 不确定度评定结果 | 第79-81页 |
6.3 小结 | 第81-82页 |
结论 | 第82-84页 |
参考文献 | 第84-88页 |
攻读硕士学位期间发表的学术论文与专利 | 第88-89页 |
致谢 | 第89页 |