| 摘要 | 第9-10页 |
| ABSTRACT | 第10页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第11-13页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第13-16页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第13-15页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第15-16页 |
| 1.3 论文结构安排 | 第16-17页 |
| 第二章 等离子体与电磁波相互作用机理及仿真方法 | 第17-32页 |
| 2.1 等离子体基本参数 | 第18-22页 |
| 2.1.1 等离子体密度 | 第18页 |
| 2.1.2 等离子体介电常数和电导率 | 第18-20页 |
| 2.1.3 等离子体碰撞频率 | 第20-21页 |
| 2.1.4 等离子体截止频率 | 第21-22页 |
| 2.2 电磁波在等离子体中传播的FDTD模拟 | 第22-29页 |
| 2.2.1 FDTD的基本理论 | 第22-27页 |
| 2.2.2 周期结构的FDTD | 第27-28页 |
| 2.2.3 等离子体的FDTD | 第28-29页 |
| 2.3 CST软件实现等离子体仿真 | 第29-31页 |
| 2.3.1 CST STUDIO SUITE软件简介 | 第29页 |
| 2.3.2 等离子体仿真模型 | 第29-31页 |
| 2.4 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 等离子柱体单元带阻周期结构 | 第32-51页 |
| 3.1 分析方法 | 第32-35页 |
| 3.2 等离子柱体单元周期结构 | 第35-39页 |
| 3.2.1 栅格排列 | 第36页 |
| 3.2.2 栅瓣准则 | 第36-39页 |
| 3.3 等离子体参数的影响 | 第39-42页 |
| 3.3.1 电子密度的影响 | 第39-40页 |
| 3.3.2 碰撞频率的影响 | 第40-42页 |
| 3.4 入射角和极化方式的影响 | 第42-43页 |
| 3.5 缺陷单元影响 | 第43-48页 |
| 3.5.1 1×2 阵列部分缺陷单元研究 | 第43-44页 |
| 3.5.2 2×2 阵列部分缺陷单元研究 | 第44-46页 |
| 3.5.3 2×3 阵列部分缺陷单元研究 | 第46-48页 |
| 3.6 可调多频阻带周期结构设计 | 第48-50页 |
| 3.7 本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 等离子体与带通FSS混合周期结构 | 第51-69页 |
| 4.1 带通FSS基本特性 | 第52-58页 |
| 4.1.1 单元类型 | 第52-54页 |
| 4.1.2 单元尺寸 | 第54页 |
| 4.1.3 介质加载 | 第54-57页 |
| 4.1.4 极化和入射角稳定性 | 第57-58页 |
| 4.2 等离子体加载单层FSS混合结构 | 第58-63页 |
| 4.2.1 单侧加载 | 第58-61页 |
| 4.2.2 两侧加载 | 第61-62页 |
| 4.2.3 极化和入射角稳定性 | 第62-63页 |
| 4.3 等离子体加载双层FSS混合结构 | 第63-68页 |
| 4.3.1 等离子体密度影响 | 第64页 |
| 4.3.2 等离子体碰撞频率影响 | 第64-65页 |
| 4.3.3 结构优化 | 第65-68页 |
| 4.4 本章小结 | 第68-69页 |
| 第五章 总结与展望 | 第69-71页 |
| 5.1 总结 | 第69-70页 |
| 5.2 展望 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-78页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第78-79页 |
| 作者在学期间参与的科研项目 | 第79页 |