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应用于高速高精度Pipelined ADC中电容失配校正算法的研究

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第11-15页
    1.1 研究意义第11-12页
    1.2 Pipelined ADC校正技术的研究和发展。第12-14页
    1.3 论文的结构安排第14-15页
第2章 Pipelined ADC及非理想因素第15-26页
    2.1 ADC基本概念第15-21页
        2.1.1 量化误差第15-16页
        2.1.2 ADC的静态参数第16-18页
        2.1.3 ADC动态特性第18-20页
        2.1.4 ADC种类第20-21页
    2.2 Pipelined ADC中的非理想因素第21-26页
        2.2.1 电容失配第22页
        2.2.2 放大器有限增益第22页
        2.2.3 比较器offset第22-23页
        2.2.4 时钟抖动第23-24页
        2.2.5 孔径抖动第24页
        2.2.6 电荷注入和时钟馈通第24-25页
        2.2.7 开关非线性第25-26页
第3章 Pipelined ADC电容失配与误差第26-35页
    3.1 电容类型第27-29页
        3.1.1 PN结电容第27-28页
        3.1.2 MOSFET电容第28-29页
        3.1.3 MIM和MOM电容第29页
    3.2 电容失配及其对PipelinedADC的影响第29-35页
        3.2.1 ADC架构第30-31页
        3.2.2 电容失配和误差第31-35页
第4章 校正算法与MATLAB建模第35-40页
    4.1 校正算法第35-37页
    4.2 MATLAB建模第37-40页
        4.2.1 MATLAB模型第37-39页
        4.2.2 仿真结果第39-40页
第5章 校正电路的设计第40-47页
    5.1 芯片架构第40-41页
    5.2 MDAC架构第41-42页
    5.3 校正电路的设计第42-47页
        5.3.1 Bootstrap的设计第42-43页
        5.3.2 Sub-ADC第43-44页
        5.3.3 Sub-DAC第44-45页
        5.3.4 放大器的设计第45-47页
第6章 测试结果第47-54页
    6.1 仿真验证第47页
    6.2 芯片版图第47-48页
    6.3 芯片测试结果第48-53页
        6.3.1 测试系统第48-50页
        6.3.2 测试结果第50-53页
    6.4 小结第53-54页
第7章 总结第54-56页
参考文献第56-60页
作者简介及科研成果第60-61页
致谢第61页

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