完整成像测量方法中轮廓测量技术的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·引言 | 第7-8页 |
| ·影像测量技术及国内外研究概况 | 第8-10页 |
| ·完整成像法测量系统的硬件构成 | 第10-11页 |
| ·本课题的意义 | 第11-12页 |
| ·本课题研究的主要内容 | 第12-13页 |
| 第二章 图像处理基础技术的研究 | 第13-29页 |
| ·像素级边缘检测方法 | 第13-17页 |
| ·一阶微分边缘检测算子 | 第13-16页 |
| ·二阶微分边缘检测算子 | 第16-17页 |
| ·亚像素级边缘定位方法 | 第17-26页 |
| ·基于矩的方法 | 第18-21页 |
| ·曲线曲面拟合或插值法 | 第21-26页 |
| ·直边边缘特征的提取 | 第26-29页 |
| ·像素级边缘点的提取 | 第26页 |
| ·亚像素边缘点的定位 | 第26-28页 |
| ·直线拟合 | 第28-29页 |
| 第三章 有完全定位基准的线轮廓度测量 | 第29-39页 |
| ·常用的轮廓度测量方法 | 第29-33页 |
| ·样板法 | 第29-30页 |
| ·投影法 | 第30-31页 |
| ·仿形法 | 第31-32页 |
| ·坐标法 | 第32页 |
| ·几种方法的对比 | 第32-33页 |
| ·线轮廓度的评价方法 | 第33-34页 |
| ·最小包容区域原则 | 第33页 |
| ·近似原则 | 第33-34页 |
| ·基于图像的轮廓度测量方法 | 第34-39页 |
| ·图像轮廓的高精度提取 | 第34页 |
| ·线轮廓度评价与评判算法 | 第34-36页 |
| ·算法分析 | 第36-39页 |
| 第四章 无完全定位基准的线轮廓度测量 | 第39-48页 |
| ·具有单点定位基准的线轮廓度测量 | 第39-42页 |
| ·微型齿轮的测量要求 | 第39-40页 |
| ·基于图像的齿轮测量算法 | 第40-42页 |
| ·互为基准要求的线轮廓度测量 | 第42-46页 |
| ·活塞环开口尺寸的测量硬件 | 第42-43页 |
| ·活塞环开口尺寸测量算法 | 第43-45页 |
| ·测量数据和结论 | 第45-46页 |
| ·无基准的线轮廓度测量 | 第46-48页 |
| 第五章 实验与分析 | 第48-57页 |
| ·直边边缘特征提取算法实验 | 第48-51页 |
| ·线轮廓度算法实验 | 第51-53页 |
| ·齿轮轮廓度测量算法实验 | 第53-57页 |
| 第六章 总结与展望 | 第57-59页 |
| ·总结 | 第57-58页 |
| ·展望 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-61页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62页 |
