| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| §1-1 引言 | 第8-9页 |
| §1-2 国内外现状和发展趋势 | 第9-11页 |
| §1-3 课题任务和意义 | 第11页 |
| §1-4 本论文主要完成的工作 | 第11-13页 |
| 第二章 电路板缺陷检测技术与系统构成 | 第13-20页 |
| §2-1 引言 | 第13页 |
| §2-2 电路板雕刻工艺介绍及缺陷分析 | 第13-16页 |
| 2-2-1 电路板雕刻机简介 | 第13-14页 |
| 2-2-2 PCB工艺简介 | 第14页 |
| 2-2-3 缺陷分析 | 第14-16页 |
| §2-3 电路板缺陷检测系统构成及其检测方法研究 | 第16-19页 |
| 2-3-1 检测系统构成 | 第16-17页 |
| 2-3-2 系统工作原理 | 第17页 |
| 2-3-3 PCB图像检测方法 | 第17-19页 |
| §2-4 本章小结 | 第19-20页 |
| 第三章 电路板检测系统的图像获取及前期处理研究 | 第20-35页 |
| §3-1 PCB图像的获取及其特点 | 第20-25页 |
| 3-1-1 PCB标准图像的获取 | 第20-21页 |
| 3-1-2 PCB待检测图像的获取 | 第21-24页 |
| 3-1-3 PCB图像的特点 | 第24-25页 |
| §3-2 PCB图像增强 | 第25-32页 |
| 3-2-1 平滑滤波 | 第25-30页 |
| 3-2-2 灰度拉伸 | 第30-32页 |
| §3-3 PCB图像分割 | 第32-34页 |
| 3-3-1 自动化阈值方法 | 第32-34页 |
| 3-3-2 基于灰度拉伸的最大类间方差法 | 第34页 |
| §3-4 本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 电路板图像配准技术研究 | 第35-47页 |
| §4-1 引言 | 第35页 |
| §4-2 模板匹配概述 | 第35-36页 |
| §4-3 配准模型的建立 | 第36-38页 |
| §4-4 Mark孔圆心特征提取方法 | 第38页 |
| §4-4 采用Hough变换检测Mark孔的圆心 | 第38-43页 |
| 4-4-1 Hough变换基本原理 | 第38-39页 |
| 4-4-2 利用Hough变换检测Mark孔的圆心坐标 | 第39-43页 |
| §4-5 利用亚像素边缘检测提高Mark孔的圆心坐标检测精度 | 第43-44页 |
| §4-6 配准实验 | 第44-46页 |
| §4-7 本章小结 | 第46-47页 |
| 第五章 电路板缺陷检测识别方法研究及系统软件实现 | 第47-63页 |
| §5-1 参考比较法检测表面缺陷及其识别 | 第47-52页 |
| 5-1-1 参考比较法检测流程 | 第47页 |
| 5-1-2 消除差影 | 第47-48页 |
| 5-1-3 缺陷的分类与识别 | 第48-52页 |
| §5-2 钻孔的检测与识别 | 第52-54页 |
| §5-3 线宽线距的检测算法 | 第54-56页 |
| §5-4 软件的实现与实验分析 | 第56-61页 |
| 5-4-1 Labview及其视觉模块 | 第56页 |
| 5-4-2 PCB缺陷检测系统软件的实现 | 第56-60页 |
| 5-4-3 实验分析 | 第60-61页 |
| §5-5 本章小结 | 第61-63页 |
| 第六章 结论 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 致谢 | 第67页 |