| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-10页 |
| ·CMOS 图像传感器发展概述 | 第7-8页 |
| ·CMOS 图像传感器的历史、现状和市场前景 | 第8-9页 |
| ·选题目的及意义 | 第9-10页 |
| 第二章 CMOS 图像传感器中有源像素电路的设计 | 第10-28页 |
| ·像素的基本概念 | 第10-17页 |
| ·有源像素的电路设计 | 第17-24页 |
| ·有源像素电路结构及基本工作原理 | 第17-18页 |
| ·光电二极管的设计 | 第18-20页 |
| ·像素中复位管的设计 | 第20-22页 |
| ·像素中源跟随器的设计 | 第22-24页 |
| ·有源像素电路的仿真与测试结果 | 第24-28页 |
| ·像素单元版图 | 第24页 |
| ·像素单元功能仿真 | 第24-25页 |
| ·像素单元的芯片测试结果 | 第25-26页 |
| ·像素单元测试结果与仿真结果的比较分析 | 第26-27页 |
| ·像素单元性能参数列表 | 第27-28页 |
| 第三章 CMOS 图像传感器中列读出电路的设计 | 第28-45页 |
| ·消除固定模式噪声的列读出电路（列放大器） | 第28-31页 |
| ·消除像素内的固定模式噪声 | 第28-29页 |
| ·消除列处理电路所带来的列固定模式噪声 | 第29-31页 |
| ·列消噪放大器的电路设计 | 第31-37页 |
| ·开关电容放大器的设计 | 第31-34页 |
| ·列读出电路中运算放大器的设计 | 第34页 |
| ·偏置电路的设计 | 第34-37页 |
| ·列读出电路的仿真与芯片测试结果 | 第37-42页 |
| ·列读出电路的版图 | 第37-38页 |
| ·列读出电路中的运算放大器仿真 | 第38-39页 |
| ·列读出电路的功能仿真与分析 | 第39-40页 |
| ·列读出电路芯片测试结果 | 第40-42页 |
| ·列读出电路的性能参数列表 | 第42页 |
| ·双采样技术的功能扩展 | 第42-45页 |
| 第四章 可编程增益放大器（PGA）的设计 | 第45-73页 |
| ·可编程增益放大器在CMOS 图像传感器系统中的应用 | 第45页 |
| ·可编程增益放大器的基本设计思想 | 第45-46页 |
| ·可编程增益放大器的电容阵列编码方式 | 第46-50页 |
| ·简单独热码编码方式 | 第46-48页 |
| ·固定反馈系数独热码编码方式 | 第48-49页 |
| ·温度计码编码方式 | 第49-50页 |
| ·可编程增益放大器的系统结构设计 | 第50-56页 |
| ·系统设计的整体考虑 | 第50-51页 |
| ·两级结构分析 | 第51-52页 |
| ·三级结构分析 | 第52-56页 |
| ·高速全差分运算放大器的设计 | 第56-67页 |
| ·差分运算放大器的结构与分析 | 第56-61页 |
| ·差分运算放大器的共模反馈电路结构分析设计 | 第61-67页 |
| ·工作时序及时钟网络 | 第67-68页 |
| ·可编程增益放大器仿真结果分析 | 第68-73页 |
| ·可编程增益放大器128 个增益步进功能仿真 | 第68-69页 |
| ·可编程增益放大器线性度实验测试 | 第69-71页 |
| ·可编程增益放大器在固定增益下的总谐波失真 | 第71-72页 |
| ·可编程增益放大器性能参数列表 | 第72-73页 |
| 第五章 总结 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-77页 |
| 附录 | 第77-79页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第79-80页 |
| 发表的论文: | 第79页 |
| 参与的科研项目: | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80页 |