高性能荧光屏的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 1 绪论 | 第10-17页 |
| ·课题的研究背景、意义 | 第10-11页 |
| ·微光像增强器荧光屏的发展 | 第11-16页 |
| ·夜视技术的发展 | 第11-15页 |
| ·微光像增强器荧光屏的概况 | 第15-16页 |
| ·主要研究内容和安排 | 第16-17页 |
| 2 荧光屏的工作原理、性能及制备 | 第17-29页 |
| ·荧光屏的工作原理 | 第17-19页 |
| ·荧光屏的性能要求 | 第19-22页 |
| ·发光亮度或发光效率 | 第19-21页 |
| ·光谱特性 | 第21页 |
| ·余辉时间 | 第21-22页 |
| ·分辨力 | 第22页 |
| ·稳定性和寿命 | 第22页 |
| ·荧光屏的制备 | 第22-29页 |
| ·荧光屏制备工艺流程 | 第23-24页 |
| ·荧光屏制作工艺要求 | 第24-29页 |
| 3 高性能荧光屏制作工艺 | 第29-35页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·相关材料的选择 | 第29-32页 |
| ·荧光粉的选择——高效率P31荧光粉 | 第29-30页 |
| ·有机膜的选择 | 第30-31页 |
| ·粘接层的选择 | 第31-32页 |
| ·高性能荧光屏制作工艺改进 | 第32-33页 |
| ·荧光屏刷涂工艺改进 | 第32页 |
| ·采用薄的粘接层 | 第32页 |
| ·涂膜工艺的改进——干喷法制作有机膜 | 第32-33页 |
| ·镀薄铝 | 第33-35页 |
| ·镀铝设备的改进 | 第33-34页 |
| ·镀铝工艺的改进 | 第34-35页 |
| 4 分辨力的研究 | 第35-43页 |
| ·引言 | 第35页 |
| ·分辨力的影响因素 | 第35-38页 |
| ·工艺方法 | 第35-36页 |
| ·荧光粉 | 第36-37页 |
| ·胶层及粘接层 | 第37-38页 |
| ·刷粉方法 | 第38页 |
| ·涂膜方法 | 第38页 |
| ·实验 | 第38-41页 |
| ·工艺方法对分辨力的影响分析 | 第38-39页 |
| ·涂膜方法对分辨力的影响 | 第39-40页 |
| ·刷粉方法对分辨力的影响 | 第40页 |
| ·荧光粉对分辨力的影响 | 第40-41页 |
| ·测试方法 | 第41-42页 |
| ·测试设备 | 第41页 |
| ·测试仪的结构 | 第41页 |
| ·测试原理 | 第41-42页 |
| ·测试方法 | 第42页 |
| ·结论及分析 | 第42-43页 |
| 5 屏效的研究 | 第43-52页 |
| ·引言 | 第43-44页 |
| ·屏效的影响因素 | 第44-47页 |
| ·工艺方法 | 第44-45页 |
| ·荧光粉及粉层厚度的影响 | 第45页 |
| ·有机膜的影响 | 第45-46页 |
| ·铝膜厚度 | 第46页 |
| ·粘接层厚度的影响 | 第46-47页 |
| ·基底的影响 | 第47页 |
| ·实验 | 第47-50页 |
| ·工艺方法对屏效的影响 | 第47-48页 |
| ·涂膜方法对屏效影响对比 | 第48页 |
| ·铝层厚度对屏效的影响 | 第48-49页 |
| ·荧光粉对屏效的影响 | 第49-50页 |
| ·测试方法 | 第50-51页 |
| ·测试设备 | 第50页 |
| ·测试仪的结构 | 第50页 |
| ·测试原理 | 第50-51页 |
| ·结论及分析 | 第51-52页 |
| 6 高场强的研究 | 第52-55页 |
| ·引言 | 第52页 |
| ·放电点的生成 | 第52页 |
| ·产生放电点的因素及解决 | 第52-54页 |
| ·结论及分析 | 第54-55页 |
| 7 结论 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-58页 |
