微光像增强器操作寿命测试技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 目录 | 第7-10页 |
| 1. 绪论 | 第10-15页 |
| ·问题的提出和意义 | 第10页 |
| ·问题的背景及分析 | 第10-13页 |
| ·背景 | 第10-11页 |
| ·要解决的问题 | 第11-12页 |
| ·意义和效益 | 第12-13页 |
| ·解决问题的思路和方法 | 第13页 |
| ·取得的成果 | 第13-15页 |
| 2. 微光像增强器的基本原理 | 第15-31页 |
| ·微光像增强器典型结构和技术特点 | 第15-26页 |
| ·零代管 | 第15页 |
| ·一代管 | 第15-17页 |
| ·二代管 | 第17-19页 |
| ·三代管 | 第19-20页 |
| ·二代半与超二代 | 第20-22页 |
| ·超二代微光成像技术的发展 | 第22-24页 |
| ·杂交管 | 第24页 |
| ·选通管 | 第24-26页 |
| ·主要特性参数 | 第26-31页 |
| ·分类 | 第26-27页 |
| ·光阴极灵敏度 | 第27页 |
| ·亮度增益 | 第27-28页 |
| ·背景等效输入照度 | 第28页 |
| ·对比度传递特性 | 第28-29页 |
| ·信噪比传递特性 | 第29-30页 |
| ·操作寿命试验 | 第30-31页 |
| 3. 微光像增强器操作寿命的测试原理 | 第31-38页 |
| ·像增强器的增益 | 第31-33页 |
| ·影响二代像增强器操作寿命的主要因素 | 第33-35页 |
| ·超二代微光像增强器的操作寿命规律和操作寿命试验 | 第35-38页 |
| 4. 一元线性回归和最小二乘法 | 第38-44页 |
| ·一元线性回归方程的求解 | 第38-40页 |
| ·函数的线性化 | 第40-41页 |
| ·幂函数的线性化 | 第40-41页 |
| ·指数函数的线性化 | 第41页 |
| ·超二代像增强器操作寿命的回归方程和寿命预测 | 第41-44页 |
| 5. 操作寿命试验 | 第44-57页 |
| ·主要参数的测量方法 | 第44-47页 |
| ·阴极光电流 | 第44页 |
| ·白光灵敏度 | 第44-45页 |
| ·阳极漏电流 | 第45-46页 |
| ·MCP电流增益 | 第46页 |
| ·阴极漏电流 | 第46页 |
| ·MCP体电阻 | 第46-47页 |
| ·暗电流密度 | 第47页 |
| ·微电流测量的方法 | 第47-57页 |
| ·电路设计中的要考虑的问题 | 第48-52页 |
| ·微电流测量电路设计 | 第52-57页 |
| 6. 操作寿命测试仪系统 | 第57-61页 |
| ·系统组成 | 第57-59页 |
| ·工作原理 | 第59-61页 |
| 7. 实际测试 | 第61-65页 |
| ·操作寿命测量 | 第61-62页 |
| ·操作寿命预测 | 第62-63页 |
| ·误差分析 | 第63-65页 |
| 8. 结束语 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-69页 |
