高增益、新原理新型光电传感器读出电路关键问题研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-10页 |
| 第一章 引言 | 第10-12页 |
| ·绪论 | 第10-11页 |
| ·课题研究内容和意义 | 第11-12页 |
| 第二章 CMOS ROIC数字部分设计 | 第12-25页 |
| ·ROIC数字部分设计 | 第12-19页 |
| ·ROIC电路结构框图 | 第12-13页 |
| ·数字电路设计方案一 | 第13-14页 |
| ·数字电路设计方案二 | 第14-19页 |
| ·大阵列ROIC数字电路的设计方案 | 第19-23页 |
| ·大规模数字电路设计方法 | 第19-20页 |
| ·大阵列的快速读出时序设计 | 第20-21页 |
| ·兼顾速度和功耗的读出时序设计 | 第21页 |
| ·大阵列读出电路的特殊功能设计 | 第21-23页 |
| ·ROIC PAD设计 | 第23-24页 |
| ·ROIC PAD设计 | 第23-24页 |
| ·PAD版图 | 第24页 |
| ·小结 | 第24-25页 |
| 第三章 ROIC芯片的测试和数据分析 | 第25-38页 |
| ·ROIC测试测试 | 第25-29页 |
| ·ROIC测试方法 | 第25-26页 |
| ·测试电路设计 | 第26-27页 |
| ·PCB板调试 | 第27-28页 |
| ·ROIC芯片连接 | 第28-29页 |
| ·ROIC测试结果 | 第29-32页 |
| ·数字部分测试结果 | 第29-30页 |
| ·模拟部分测试结果 | 第30-32页 |
| ·库的测试 | 第32-36页 |
| ·单元库CTIA测试 | 第32-34页 |
| ·运放单元库测试 | 第34-36页 |
| ·测试中出现的问题及其分析 | 第36-37页 |
| ·小结 | 第37-38页 |
| 第四章 CMOS ROIC的性能分析 | 第38-52页 |
| ·ROIC的噪声分析 | 第38-44页 |
| ·ROIC噪声源 | 第38-39页 |
| ·运算放大器和噪声 | 第39-40页 |
| ·积分电容C_(int)和噪声 | 第40-41页 |
| ·新结构CDS | 第41-44页 |
| ·CMOS电路的低温性能分析 | 第44-48页 |
| ·低温效应 | 第44-46页 |
| ·提高电路低温性能 | 第46-48页 |
| ·ESD保护电路性能分析 | 第48-51页 |
| ·ESD失效 | 第48-49页 |
| ·浮栅结构ESD保护电路设计 | 第49-51页 |
| ·小结 | 第51-52页 |
| 第五章 总结 | 第52-53页 |
| ·总结 | 第52页 |
| ·需进一步改进之处 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-60页 |
| 附录 | 第60-61页 |
| 攻读学位期间发表学术论文 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62页 |
