稀土（Sm，Gd）掺杂TiO2稀磁半导体的制备和磁性研究
| 中文摘要 | 第1-10页 |
| ABSTRACT | 第10-13页 |
| 符号表 | 第13-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-40页 |
| §1.1 引言 | 第14-15页 |
| §1.2 稀磁半导体的概述 | 第15-19页 |
| §1.3 TiO_2基稀磁半导体研究历史及现状 | 第19-28页 |
| ·Co掺杂TiO_2 | 第23-25页 |
| ·V、Mn、Fe、Ni、Cu、Cr掺杂TiO_2 | 第25-28页 |
| §1.4 稀磁半导体的应用 | 第28-31页 |
| §1.5 稀磁半导体磁性的起源问题 | 第31-33页 |
| §1.6 课题的选取及其研究意义 | 第33-35页 |
| 参考文献: | 第35-40页 |
| 第二章 样品的制备及测量方法 | 第40-50页 |
| §2.1 样品的制备 | 第40-42页 |
| ·溶胶-凝胶法制备样品 | 第41-42页 |
| §2.2 实验样品的测量 | 第42-48页 |
| ·X射线衍射(XRD) | 第42-43页 |
| ·拉曼光谱(Raman Spectra) | 第43-45页 |
| ·X射线光电子能谱仪(XPS) | 第45-46页 |
| ·交变梯度样品磁强记(AGM) | 第46-48页 |
| 参考文献 | 第48-50页 |
| 第三章 Sm-TiO_2稀磁半导体的研究 | 第50-65页 |
| §3.1 样品的XRD结构表征 | 第50-53页 |
| ·退火温度对样品结构的影响 | 第50-52页 |
| ·掺杂量对样品结构的影响 | 第52-53页 |
| §3.2 拉曼光谱对样品结构的分析 | 第53-55页 |
| §3.3 XPS谱对样品成分的鉴定 | 第55-56页 |
| §3.4 样品磁性的分析研究 | 第56-62页 |
| ·样品的室温铁磁性 | 第56-57页 |
| ·掺杂量对样品铁磁性的影响 | 第57-59页 |
| ·真空退火对样品铁磁性的影响 | 第59-60页 |
| ·退火温度对样品铁磁性的影响 | 第60-62页 |
| §3.5 小结 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-65页 |
| 第四章 Gd-TiO_2稀磁半导体的研究 | 第65-74页 |
| §4.1 样品的XRD结构表征 | 第65-68页 |
| ·退火温度对样品结构的影响 | 第65-66页 |
| ·掺杂量对样品结构的影响 | 第66-68页 |
| §4.2 样品磁性的分析研究 | 第68-72页 |
| ·掺杂量对样品铁磁性的影响 | 第68-70页 |
| ·退火温度对样品铁磁性的影响 | 第70-72页 |
| §4.3 小结 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-74页 |
| 第五章 总结 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文目录 | 第76-77页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第77页 |
