首页--工业技术论文--自动化技术、计算机技术论文--计算技术、计算机技术论文--电子数字计算机(不连续作用电子计算机)论文--存贮器论文

存储阵列兼容性测试的研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-10页
第一章 绪论第10-13页
   ·研究背景第10-11页
   ·应用前景第11页
   ·作者的工作和本文组织第11-13页
第二章 存储与测试理论第13-33页
   ·存储相关知识第13-27页
     ·RAID第13-19页
     ·LUN 及LUN 映射第19页
     ·端口映射第19页
     ·存储架构第19-21页
     ·存储协议第21-27页
   ·软件测试理论第27-32页
     ·软件测试的定义第27页
     ·软件测试的生命周期第27页
     ·软件测试的意义第27-28页
     ·软件测试分类第28-31页
     ·黑盒测试方法第31-32页
   ·小结第32-33页
第三章 存储基本兼容性测试设计第33-46页
   ·存储兼容性测试种类第33-34页
     ·操作系统兼容性测试第33-34页
     ·存储软件兼容性测试第34页
     ·硬件兼容性测试第34页
   ·兼容性测试的平台及标准第34-35页
     ·测试平台和软件版本第34-35页
     ·标准和规范第35页
   ·存储基本兼容性测试用例设计第35-43页
     ·基本兼容性测试框架第35-36页
     ·连通性测试设计第36-37页
     ·磁盘管理测试设计第37-42页
     ·数据传输测试设计第42-43页
   ·基于配对组合覆盖测试的存储兼容性测试案例生成方法第43-44页
   ·小结第44-46页
第四章 存储基本兼容性测试故障诊断策略第46-52页
   ·基于最小组合覆盖集的故障诊断策略第46-48页
     ·基本思想第46-47页
     ·实例分析第47-48页
   ·一种模糊故障诊断策略第48-51页
     ·基本思想第48-50页
     ·实例分析第50-51页
   ·小结第51-52页
第五章 存储基本兼容性测试实例分析第52-59页
   ·存储系统简介第52-53页
   ·测试工具介绍第53-54页
   ·测试环境第54-56页
   ·测试结果分析第56-57页
   ·小结第57-59页
第六章 存储与VXVM 兼容性测试设计第59-67页
   ·探索性测试含义第59-60页
   ·探索性测试步骤第60-62页
   ·探索性测试的管理第62-63页
   ·VXVM 测试实例第63-66页
     ·VxVM 简介第63-64页
     ·VxVM 主要功能第64页
     ·测试框架第64-66页
     ·测试结果记录第66页
   ·小结第66-67页
第七章 总结与展望第67-69页
   ·总结第67-68页
   ·展望第68-69页
致谢第69-70页
参考文献第70-72页
攻硕期间取得的研究成果第72-73页

论文共73页,点击 下载论文
上一篇:基于SAN的RAID控制器的设计与实现
下一篇:多CPU系统的中断机制