摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-10页 |
第一章 绪论 | 第10-14页 |
·存储的现状与发展 | 第10-12页 |
·存储的现状 | 第10-11页 |
·存储的发展方向 | 第11-12页 |
·课题研究内容 | 第12-13页 |
·论文结构 | 第13-14页 |
第二章 存储基础介绍 | 第14-36页 |
·存储网络的发展 | 第14-20页 |
·普通的计算机主机的系统结构 | 第14-15页 |
·JBOD(Just Bundle Of Disks)结构 | 第15-16页 |
·DAS(Direct Attached Storage-直接附加存储) | 第16-17页 |
·NAS(Network Attached Storage-网络附加存储) | 第17-18页 |
·SAN(Storage Area Network-存储区域网) | 第18-20页 |
·NAS 与SAN 的比较 | 第20页 |
·不同介质的 SAN | 第20-24页 |
·FC SAN | 第21-22页 |
·IP SAN | 第22-24页 |
·RAID 基础知识 | 第24-26页 |
·RAID 的工作方式及优点 | 第24-25页 |
·RAID 中的术语介绍 | 第25-26页 |
·R AID 级别 | 第26-33页 |
·RAID0(数据分条) | 第26-27页 |
·RAID1(镜像硬盘) | 第27-28页 |
·RAID2(汉明码校验) | 第28页 |
·RAID-3(字节级专职校验盘) | 第28-29页 |
·RAID4(区块级专职校验盘) | 第29页 |
·RAID5(分布式校验) | 第29-30页 |
·RAID6(两种独立的校验) | 第30-31页 |
·RAID10(镜像冗余和数据分条) | 第31-32页 |
·RAID30/RAID50(冗余校验和数据分条) | 第32-33页 |
·衡量 RAID 性能的主要指标 | 第33-35页 |
·可靠性 | 第33-34页 |
·吞吐率 | 第34页 |
·响应时间 | 第34-35页 |
·本章小结 | 第35-36页 |
第三章 系统总体设计 | 第36-50页 |
·主机系统高可用技术 | 第36-38页 |
·双机热备份方式 | 第36-37页 |
·双机互备份方式 | 第37-38页 |
·群集并发存取方式 | 第38页 |
·适用场合 | 第38页 |
·存储控制器硬件架构的设计与实现 | 第38-43页 |
·控制器设计方案 | 第38-43页 |
·紧急下电的处理流程 | 第43页 |
·存储控制器的软件架构 | 第43-45页 |
·系统的 I/O 流程 | 第45-49页 |
·I/O 在CACHE 中的处理 | 第46页 |
·I/O 在RAID 中的处理 | 第46-49页 |
·本章小结 | 第49-50页 |
第四章 分条校验的设计与实现 | 第50-65页 |
·分条校验的基本概念 | 第50-52页 |
·冗余数据 | 第50-51页 |
·分条修复 | 第51-52页 |
·分条校验要完成的功能与设计约束 | 第52-53页 |
·分条校验需要实现的功能 | 第52-53页 |
·分条校验的设计约束 | 第53页 |
·分条校验主要的数据结构 | 第53-56页 |
·分条校验的模块划分 | 第56-59页 |
·接口及控制模块 | 第57-58页 |
·校验模块 | 第58页 |
·修复模块 | 第58-59页 |
·查询模块 | 第59页 |
·分条校验大致的执行流程 | 第59-64页 |
·不同RAID 级别单个分条的校验 | 第60-61页 |
·校验流程的实现 | 第61-62页 |
·修复流程的实现 | 第62-64页 |
·本章小结 | 第64-65页 |
第五章 测试与结论 | 第65-69页 |
·测试环境搭建及测试 | 第65-68页 |
·控制器故障的测试 | 第65-66页 |
·单控恢复的测试 | 第66页 |
·紧急下电的侧试 | 第66-67页 |
·分条校验测试正常功能测试 | 第67-68页 |
·分条校验容错测试 | 第68页 |
·R AID 控制器功能评价 | 第68-69页 |
第六章 总结与展望 | 第69-71页 |
·全文总结 | 第69-70页 |
·发展与展望 | 第70-71页 |
致谢 | 第71-72页 |
参考文献 | 第72-76页 |
攻硕期间的研究成果 | 第76-77页 |