| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-20页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第16-17页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第17-18页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第17页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第17-18页 |
| 1.3 论文的主要工作及结构安排 | 第18-20页 |
| 第二章 单粒子瞬态效应基本理论 | 第20-30页 |
| 2.1 空间辐射环境及辐射效应 | 第20-23页 |
| 2.1.1 空间辐射环境 | 第20-22页 |
| 2.1.2 集成电路辐射效应 | 第22-23页 |
| 2.2 单粒子瞬态效应 | 第23-26页 |
| 2.2.1 电荷产生 | 第23-25页 |
| 2.2.2 电荷收集 | 第25-26页 |
| 2.2.3 电路响应 | 第26页 |
| 2.3 单粒子效应模拟方法 | 第26-27页 |
| 2.4 模拟电路的SET效应 | 第27-28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-30页 |
| 第三章 运算放大器和比较器SET效应分析 | 第30-58页 |
| 3.1 电路结构设计以及SET电流源 | 第30-40页 |
| 3.1.1 运算放大器结构和性能仿真 | 第30-33页 |
| 3.1.2 比较器结构和性能仿真 | 第33-37页 |
| 3.1.3 SET电流源 | 第37-40页 |
| 3.2 运算放大器的SET分析 | 第40-50页 |
| 3.2.1 运算放大器的SET敏感节点 | 第40-42页 |
| 3.2.2 运算放大器的参数对运放SET的影响 | 第42-50页 |
| 3.2.3 小结 | 第50页 |
| 3.3 比较器的SET敏感性分析 | 第50-57页 |
| 3.3.1 比较器第一级敏感节点 | 第50-51页 |
| 3.3.2 比较器第四级(latch)敏感节点 | 第51-54页 |
| 3.3.3 比较器第五级(SR-latch)敏感节点 | 第54-56页 |
| 3.3.4 SET效应对比较器的影响 | 第56-57页 |
| 3.4 本章小结 | 第57-58页 |
| 第四章 运算放大器和比较器的加固和验证 | 第58-72页 |
| 4.1 常见的SET加固方法 | 第58-60页 |
| 4.1.1 DCC版图加固技术 | 第59页 |
| 4.1.2 SNACC版图加固技术 | 第59-60页 |
| 4.2 模拟电路SET系统级加固方法 | 第60-65页 |
| 4.2.1 加固原理和具体实施方式 | 第60-62页 |
| 4.2.2 故障检测电路 | 第62-63页 |
| 4.2.3 RS触发器 | 第63-64页 |
| 4.2.4 开关选择模块 | 第64-65页 |
| 4.2.5 加固方案特点 | 第65页 |
| 4.3 运算放大器和比较器的加固设计 | 第65-70页 |
| 4.3.1 两级CMOS运算放大器的SET加固 | 第65-68页 |
| 4.3.2 比较器的SET加固 | 第68-70页 |
| 4.4 本章小结 | 第70-72页 |
| 第五章 总结和展望 | 第72-74页 |
| 5.1 工作总结 | 第72页 |
| 5.2 工作展望 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-80页 |
| 致谢 | 第80-82页 |
| 作者简介 | 第82-83页 |