| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 研究背景 | 第11页 |
| 1.2 发展概况 | 第11-14页 |
| 1.2.1 X射线晶体定向仪发展概况 | 第11-13页 |
| 1.2.2 蓝宝石单晶缺陷类型检测方法发展概况 | 第13-14页 |
| 1.2.3 DSP芯片的发展及应用 | 第14页 |
| 1.3 聚类算法及其分类 | 第14-15页 |
| 1.3.1 划分方法 | 第15页 |
| 1.3.2 层次方法 | 第15页 |
| 1.3.3 基于模型的方法 | 第15页 |
| 1.3.4 模糊聚类方法 | 第15页 |
| 1.4 论文主要内容及安排 | 第15-17页 |
| 第2章 多功能X射线定向仪控制系统总体设计 | 第17-25页 |
| 2.1 系统基本概述 | 第17-20页 |
| 2.1.1 系统基本结构 | 第17-18页 |
| 2.1.2 系统基本工作流程及功能 | 第18-19页 |
| 2.1.3 系统研发难点 | 第19-20页 |
| 2.2 系统的硬件结构设计 | 第20-21页 |
| 2.2.1 硬件结构设计 | 第20页 |
| 2.2.2 伺服运动单元设计 | 第20-21页 |
| 2.3 系统的软件结构设计 | 第21-22页 |
| 2.4 系统开发环境简介 | 第22-24页 |
| 2.4.1 硬件开发环境 | 第22页 |
| 2.4.2 DSP软件开发环境 | 第22-23页 |
| 2.4.3 上位机软件开发环境 | 第23-24页 |
| 2.5 本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 多功能X射线定向仪控制系统软硬件设计 | 第25-41页 |
| 3.1 硬件控制电路设计 | 第25-31页 |
| 3.1.1 DSP最小系统硬件设计 | 第25-27页 |
| 3.1.2 光耦电路设计 | 第27-28页 |
| 3.1.3 AD转换模块电路设计 | 第28页 |
| 3.1.4 运动控制电路设计 | 第28-30页 |
| 3.1.5 通讯接口电路设计 | 第30-31页 |
| 3.1.6 本地键盘接口设计 | 第31页 |
| 3.2 DSP控制软件设计 | 第31-37页 |
| 3.2.1 系统初始化设计 | 第32-34页 |
| 3.2.2 ADC模块程序设计 | 第34-35页 |
| 3.2.3 ePWM模块程序设计 | 第35页 |
| 3.2.4 eQEP模块程序设计 | 第35-36页 |
| 3.2.5 串行接口SCI程序设计 | 第36-37页 |
| 3.3 上位机控制软件设计 | 第37-40页 |
| 3.3.1 软件登陆及功能选择界面 | 第38页 |
| 3.3.2 参数选择及设定界面 | 第38页 |
| 3.3.3 测量主界面 | 第38-39页 |
| 3.3.4 辅助功能 | 第39-40页 |
| 3.4 本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 晶体缺陷识别算法研究 | 第41-67页 |
| 4.1 模糊聚类算法简介 | 第41页 |
| 4.2 模糊传递闭包聚类算法 | 第41-44页 |
| 4.3 模糊c均值算法 | 第44-48页 |
| 4.3.1 FCM算法的基本原理 | 第44-46页 |
| 4.3.2 FCM算法的基本流程 | 第46-48页 |
| 4.4 仿真实验及结果分析 | 第48-54页 |
| 4.4.1 FCM算法的仿真实验 | 第48-53页 |
| 4.4.2 仿真实验的结果与分析 | 第53-54页 |
| 4.4.3 FCM算法存在的问题 | 第54页 |
| 4.5 晶体缺陷识别算法改进 | 第54-62页 |
| 4.5.1 可能性c均值聚类算法 | 第54-56页 |
| 4.5.2 聚类有效性指标 | 第56-57页 |
| 4.5.3 粒子群优化算法 | 第57-59页 |
| 4.5.4 基于密度函数的莱茵达算法改进 | 第59-60页 |
| 4.5.5 基于粒子群算法的PCM改进算法 | 第60-62页 |
| 4.6 仿真实验及结果分析 | 第62-66页 |
| 4.7 本章小结 | 第66-67页 |
| 第5章 晶体缺陷识别系统 | 第67-75页 |
| 5.1 晶片缺陷模式提取 | 第67-68页 |
| 5.2 C#与Matlab混合编程 | 第68-70页 |
| 5.2.1 Matlab生成动态链接库 | 第68-69页 |
| 5.2.2 C#使用Matlab生成的动态链接库 | 第69-70页 |
| 5.3 基于传递闭包聚类算法的实时缺陷类型识别 | 第70-72页 |
| 5.4 基于改进的PCM聚类算法的批量缺陷类型识别 | 第72-73页 |
| 5.5 本章小结 | 第73-75页 |
| 第6章 结论与展望 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79页 |