| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 论文背景与意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.2.1 自适应时钟技术研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 自适应电压调节技术研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 论文研究内容及研究目标 | 第12页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第12-15页 |
| 第二章 自适应时钟和自适应电压调节技术概述 | 第15-23页 |
| 2.1 芯片PVT偏差分析 | 第15-18页 |
| 2.1.1 偏差来源与分类 | 第15页 |
| 2.1.2 工艺偏差 | 第15-17页 |
| 2.1.3 电压偏差 | 第17页 |
| 2.1.4 温度偏差 | 第17-18页 |
| 2.2 自适应时钟技术 | 第18-19页 |
| 2.3 自适应电压调节技术 | 第19-21页 |
| 2.3.1 间接监控 | 第19页 |
| 2.3.2 原地直接监控 | 第19-21页 |
| 2.4 本章小结 | 第21-23页 |
| 第三章 时序监测单元和自适应时钟电路设计 | 第23-41页 |
| 3.1 时序监测单元 | 第23-25页 |
| 3.2 自适应时钟电路设计 | 第25-39页 |
| 3.2.1 基于PVTM的宽电压自适应时钟电路 | 第26-30页 |
| 3.2.2 快速双向自适应时钟电路 | 第30-39页 |
| 3.3 本章小结 | 第39-41页 |
| 第四章 自适应调节电路仿真验证设计和结果分析 | 第41-57页 |
| 4.1 AVS电路设计 | 第41-45页 |
| 4.1.1 错误检测及纠正电路时序 | 第42-43页 |
| 4.1.2 短路径修复 | 第43-44页 |
| 4.1.3 动态或门电路 | 第44-45页 |
| 4.2 验证平台设计 | 第45页 |
| 4.3 芯片功能验证 | 第45-50页 |
| 4.3.1 系统功能验证 | 第46-47页 |
| 4.3.2 自适应调节功能验证 | 第47-50页 |
| 4.4 仿真结果分析 | 第50-55页 |
| 4.4.1 自适应时钟电路的频率收益及仿真结果分析 | 第50-51页 |
| 4.4.2 AVS仿真结果分析 | 第51-55页 |
| 4.5 本章小结 | 第55-57页 |
| 第五章 总结与展望 | 第57-59页 |
| 5.1 总结 | 第57页 |
| 5.2 展望 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 作者简介 | 第65页 |