0.18μm D触发器加固设计与建库
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-17页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第8-9页 |
| 1.2 辐射效应 | 第9-11页 |
| 1.3 国内外研究现状及分析 | 第11-15页 |
| 1.3.1 抗辐射加固研究现状 | 第11-14页 |
| 1.3.2 标准单元库研究现状 | 第14-15页 |
| 1.4 主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 D触发器加固设计 | 第17-31页 |
| 2.1 D触发器电路加固设计 | 第17-23页 |
| 2.1.1 DICE结构分析 | 第17-19页 |
| 2.1.2 D触发器设计 | 第19-22页 |
| 2.1.3 功能仿真验证 | 第22-23页 |
| 2.2 D触发器版图加固设计 | 第23-27页 |
| 2.2.1 抗TID版图加固 | 第24-25页 |
| 2.2.2 抗SEL版图加固 | 第25页 |
| 2.2.3 抗SEU版图加固 | 第25页 |
| 2.2.4 标准单元版图设计 | 第25-27页 |
| 2.3 抗单粒子翻转性能分析 | 第27-30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第3章 标准单元库的建立 | 第31-42页 |
| 3.1 标准单元库基本组成和建库流程 | 第31-32页 |
| 3.1.1 标准单元库基本组成 | 第31页 |
| 3.1.2 标准单元库建库流程 | 第31-32页 |
| 3.2 版图物理信息提取 | 第32-34页 |
| 3.3 逻辑信息提取 | 第34-41页 |
| 3.3.1 时序信息提取 | 第35-38页 |
| 3.3.2 功耗信息提取 | 第38-40页 |
| 3.3.3 电容的提取 | 第40-41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 标准单元库验证 | 第42-48页 |
| 4.1 逻辑综合验证 | 第42-44页 |
| 4.2 自动布局布线验证 | 第44-46页 |
| 4.3 本章小结 | 第46-48页 |
| 结论 | 第48-49页 |
| 附录 OCEAN脚本 | 第49-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60页 |
