悬式绝缘子尺寸综合测试台研制及关键方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-20页 |
| 1.1 研究背景 | 第11-14页 |
| 1.2 研究意义 | 第14-15页 |
| 1.3 逆向工程 | 第15-19页 |
| 1.3.1 逆向工程简介 | 第15-17页 |
| 1.3.2 三维扫描技术 | 第17-18页 |
| 1.3.3 点云数据处理 | 第18页 |
| 1.3.4 逆向工程及三维扫描技术发展现状 | 第18-19页 |
| 1.4 论文的主要研究工作内容 | 第19-20页 |
| 第二章 悬式绝缘子测量方案 | 第20-29页 |
| 2.1 技术要求 | 第20-21页 |
| 2.2 现有测量装置及方案所存在的问题 | 第21-23页 |
| 2.2.1 悬式绝缘子使用方式 | 第21页 |
| 2.2.2 悬式绝缘子现有参数测量装置 | 第21-22页 |
| 2.2.3 现有测量装置存在的问题 | 第22-23页 |
| 2.3 测量方案 | 第23-26页 |
| 2.4 测量装置 | 第26-28页 |
| 2.5 本章小节 | 第28-29页 |
| 第三章 悬式绝缘子扫描装置设计 | 第29-44页 |
| 3.1 结构设计 | 第29-36页 |
| 3.1.1 框架设计 | 第29-31页 |
| 3.1.2 上拉装置设计 | 第31-33页 |
| 3.1.3 下拉装置设计 | 第33-34页 |
| 3.1.4 激光测距装置设计 | 第34-36页 |
| 3.2 控制系统设计 | 第36-38页 |
| 3.2.1 硬件设计 | 第36-37页 |
| 3.2.2 软件设计 | 第37-38页 |
| 3.3 试验过程 | 第38-41页 |
| 3.3.1 标准零件选用 | 第39-40页 |
| 3.3.2 试验参数设定 | 第40-41页 |
| 3.4 悬式绝缘子扫描装置结构误差分析与处理 | 第41-43页 |
| 3.5 本章小节 | 第43-44页 |
| 第四章 悬式绝缘子点云数据处理 | 第44-67页 |
| 4.1 点云数据噪声点和随机误差产生因素 | 第45-47页 |
| 4.2 点云数据处理流程 | 第47-48页 |
| 4.3 点云数据预处理 | 第48-51页 |
| 4.4 点云数据配准 | 第51-54页 |
| 4.5 点云数据去噪处理 | 第54-66页 |
| 4.5.1 点云数据去噪光顺算法 | 第54-61页 |
| 4.5.2 悬式绝缘子点云数据去噪算法 | 第61-66页 |
| 4.6 本章小节 | 第66-67页 |
| 第五章 悬式绝缘子外表面曲面重构 | 第67-78页 |
| 5.1 常见的空间插值法 | 第67-72页 |
| 5.1.1 最近邻点插值法 | 第67-69页 |
| 5.1.2 算数平均值插值法 | 第69页 |
| 5.1.3 距离反比插值法 | 第69-70页 |
| 5.1.4 克里金插值法 | 第70-72页 |
| 5.2 曲面重建 | 第72-77页 |
| 5.2.1 Geomagic简介 | 第72-73页 |
| 5.2.2 悬式绝缘子的曲面重建 | 第73-77页 |
| 5.2.3 提取曲面点 | 第77页 |
| 5.3 本章小节 | 第77-78页 |
| 第六章 悬式绝缘子四参数计算方法 | 第78-83页 |
| 6.1 爬电距离计算 | 第78-81页 |
| 6.1.1 插值法估算边界 | 第78-79页 |
| 6.1.2 单次扫描爬电距离计算 | 第79-80页 |
| 6.1.3 最小爬电距离计算 | 第80-81页 |
| 6.2 最大盘径计算 | 第81页 |
| 6.3 轴向偏差计算 | 第81-82页 |
| 6.4 径向偏差计算 | 第82页 |
| 6.5 本章小节 | 第82-83页 |
| 第七章 总结与展望 | 第83-84页 |
| 7.1 总结 | 第83页 |
| 7.2 展望 | 第83-84页 |
| 致谢 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-89页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第89页 |
