| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 背景介绍 | 第10-11页 |
| 1.2 材料中氦的基本特性 | 第11-12页 |
| 1.3 金属材料中的氦行为 | 第12-13页 |
| 1.3.1 材料中氦的引入方式 | 第12-13页 |
| 1.3.2 氦的扩散迁移 | 第13页 |
| 1.4 辐照损伤效应 | 第13-15页 |
| 1.4.1 缺陷类别 | 第14页 |
| 1.4.2 辐照导致的缺陷 | 第14-15页 |
| 1.5 国内外研究现状 | 第15-17页 |
| 2 实验原理及方法介绍 | 第17-31页 |
| 2.1 正电子湮没谱学原理概述 | 第17-21页 |
| 2.1.1 正电子的发现 | 第17-18页 |
| 2.1.2 正电子源 | 第18-19页 |
| 2.1.3 正电子热化扩散 | 第19-20页 |
| 2.1.4 正电子捕获湮没 | 第20-21页 |
| 2.2 正电子湮没谱学探测技术 | 第21-25页 |
| 2.2.1 正电子湮没寿命谱 | 第21-23页 |
| 2.2.2 正电子湮没多普勒展宽谱 | 第23-24页 |
| 2.2.3 正电子湮没符合多普勒展宽能谱 | 第24-25页 |
| 2.3 慢正电子束流技术 | 第25-28页 |
| 2.3.1 慢正电子的获得 | 第25-26页 |
| 2.3.2 慢正电子束流装置 | 第26-27页 |
| 2.3.3 探测技术介绍 | 第27-28页 |
| 2.4 TDS原理介绍及应用 | 第28-30页 |
| 2.4.1 理论基础介绍 | 第29页 |
| 2.4.2 实验仪器介绍 | 第29-30页 |
| 2.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 3 金属材料氦辐照损伤研究 | 第31-42页 |
| 3.1 离子模拟辐照损伤 | 第31-35页 |
| 3.1.1 SRIM模拟介绍 | 第31-32页 |
| 3.1.2 低能He辐照损伤模拟 | 第32-33页 |
| 3.1.3 高能He辐照损伤模拟 | 第33-35页 |
| 3.2 金属材料的He辐照效应 | 第35-37页 |
| 3.2.1 样品的准备 | 第35-36页 |
| 3.2.2 样品的寿命值测量 | 第36页 |
| 3.2.3 低能He辐照条件 | 第36页 |
| 3.2.4 高能He辐照条件 | 第36-37页 |
| 3.3 He辐照损伤结果讨论及分析 | 第37-40页 |
| 3.4 本章小结 | 第40-42页 |
| 4 位错型缺陷对He辐照效应的影响 | 第42-61页 |
| 4.1 样品的制备及处理 | 第42-43页 |
| 4.2 实验过程 | 第43页 |
| 4.3 基于正电子湮没的He辐照效应结果分析 | 第43-58页 |
| 4.3.1 He辐照纯Fe样品的慢正电子束流测量结果 | 第43-45页 |
| 4.3.2 He辐照304样品的慢正电子束流测量结果 | 第45-54页 |
| 4.3.3 He辐照 316L样品的慢正电子束流测量结果 | 第54-58页 |
| 4.4 位错对He离子辐照效应影响的实验结果对比讨论 | 第58-59页 |
| 4.5 本章小结 | 第59-61页 |
| 5 位错型缺陷对He原子热力学行为的影响 | 第61-68页 |
| 5.1 前言 | 第61页 |
| 5.2 TDS实验条件及过程 | 第61-62页 |
| 5.2.1 实验样品 | 第61页 |
| 5.2.2 实验条件 | 第61-62页 |
| 5.3 TDS实验结果分析 | 第62-67页 |
| 5.4 本章小结 | 第67-68页 |
| 6 主要结论与展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
