| 中文摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 缩略词表 | 第6-9页 |
| 第一章 研究背景 | 第9-16页 |
| 1.1 头颅定位侧位片和CBCT在正畸领域的应用 | 第9-12页 |
| 1.1.1 头颅定位侧位片的应用 | 第9-10页 |
| 1.1.2 CBCT的应用 | 第10-12页 |
| 1.2 腭骨厚度之于正畸领域 | 第12-16页 |
| 1.2.1 腭骨厚度研究进展 | 第12-14页 |
| 1.2.2 腭骨厚度对腭部种植体支抗的影响 | 第14-16页 |
| 第二章 腭骨厚度CBCT与头颅定位测量值的相关性 | 第16-31页 |
| 2.1 引言 | 第16页 |
| 2.2 材料和方法 | 第16-27页 |
| 2.2.1 研究对象 | 第16-17页 |
| 2.2.2 实验器材 | 第17页 |
| 2.2.3 实验方法 | 第17-27页 |
| 2.2.4 统计分析 | 第27页 |
| 2.3 结果 | 第27-29页 |
| 2.3.1 前后两次测量数据对比 | 第27页 |
| 2.3.2 CBCT测量平面遇到切牙管或上颌窦的比例 | 第27页 |
| 2.3.3 各测量平面上CBCT与头颅定位测量值及其比较 | 第27-29页 |
| 2.4 讨论 | 第29-30页 |
| 2.5 结论 | 第30-31页 |
| 第三章 全文总结 | 第31-32页 |
| 参考文献 | 第32-38页 |
| 在研期间的研究成果 | 第38-39页 |
| 致谢 | 第39页 |