摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
绪论 | 第11-13页 |
第一章 文献综述 | 第13-29页 |
1.1 多铁性材料概述 | 第13-17页 |
1.1.1 铁磁材料与铁电材料 | 第13-17页 |
1.1.2 单相多铁性材料与复合多铁性材料 | 第17页 |
1.2 介电材料概述 | 第17-22页 |
1.2.1 介质极化的基本形式 | 第17-19页 |
1.2.2 电介质的电性能 | 第19-21页 |
1.2.3 介电材料简介及研究现状 | 第21-22页 |
1.3 铁酸铋概述 | 第22-25页 |
1.3.1 铁酸铋的结构 | 第22-23页 |
1.3.2 铁酸铋的磁电性能 | 第23-24页 |
1.3.3 铁酸铋的研究现状 | 第24-25页 |
1.4 薄膜的制备方法 | 第25-26页 |
1.4.1 溅射法(Sputtering) | 第25页 |
1.4.2 脉冲激光沉积(PLD) | 第25页 |
1.4.3 分子束外延(MBE) | 第25页 |
1.4.4 溶胶凝胶法(Sol-gel) | 第25-26页 |
1.5 本课题的目的意义和研究内容 | 第26-29页 |
第二章 实验方法 | 第29-35页 |
2.1 实验原料与仪器 | 第29-30页 |
2.1.1 实验原料 | 第29页 |
2.1.2 实验仪器 | 第29页 |
2.1.3 测试仪器 | 第29-30页 |
2.2 BiFeO_3薄膜的制备 | 第30页 |
2.3 材料表征方法 | 第30-33页 |
2.3.1 X射线衍射(XRD) | 第30-31页 |
2.3.2 扫描电子显微镜(SEM) | 第31页 |
2.3.3 能谱仪(EDS) | 第31-32页 |
2.3.4 透射电子显微镜(TEM) | 第32页 |
2.3.5 X射线光电子能谱(XPS) | 第32页 |
2.3.6 紫外-可见光谱(UV-Vis) | 第32-33页 |
2.4 材料性能测试 | 第33-35页 |
2.4.1 介电性能测试 | 第33页 |
2.4.2 铁电性能测试 | 第33-34页 |
2.4.3 磁性能测试 | 第34-35页 |
第三章 银/铁酸铋薄膜的制备以及形成研究 | 第35-69页 |
3.1 引言 | 第35页 |
3.2 银/铁酸铋薄膜的制备 | 第35-44页 |
3.2.1 铁酸铋薄膜的制备 | 第35-37页 |
3.2.2 不同络合剂对薄膜形成的影响 | 第37-38页 |
3.2.3 不同前驱体溶胶浓度对薄膜形成的影响 | 第38-40页 |
3.2.4 不同热处理温度对薄膜形成的影响 | 第40-42页 |
3.2.5 不同银含量对薄膜形成的影响 | 第42-44页 |
3.3 银/铁酸铋薄膜的形成研究 | 第44-66页 |
3.3.1 Ag掺杂BiFeO_3薄膜的形成 | 第44-56页 |
3.3.2 纳米Ag/BiFeO_3复合薄膜的形成 | 第56-61页 |
3.3.3 纳米银形成机理的研究 | 第61-66页 |
3.4 本章小结 | 第66-69页 |
第四章 银/铁酸铋薄膜的介电行为研究 | 第69-81页 |
4.1 引言 | 第69页 |
4.2 纯BiFeO_3薄膜的介电性能与薄膜结晶性、缺陷的关系研究 | 第69-71页 |
4.3 Ag/BiFeO_3薄膜的Ag掺杂及纳米银颗粒复合对介电常数影响研究 | 第71-74页 |
4.4 Ag/BiFeO_3薄膜的Ag掺杂及纳米银颗粒复合对介电损耗影响研究 | 第74-79页 |
4.5 本章小结 | 第79-81页 |
第五章 银/铁酸铋薄膜的磁性能、铁电性能研究 | 第81-91页 |
5.1 引言 | 第81页 |
5.2 Ag/BiFeO_3薄膜的磁性能研究 | 第81-88页 |
5.2.1 纯BiFeO_3薄膜的磁性能研究 | 第81-83页 |
5.2.2 Ag/BiFeO_3薄膜的Ag掺杂及纳米银颗粒复合对磁性能的影响研究 | 第83-87页 |
5.2.3 Ag/BiFeO_3复合薄膜的磁各向异性研究 | 第87-88页 |
5.3 BiFeO_3薄膜的铁电性能研究 | 第88-89页 |
5.4 本章小结 | 第89-91页 |
第六章 全文研究总结与展望 | 第91-93页 |
6.1 研究总结 | 第91-92页 |
6.2 存在问题与展望 | 第92-93页 |
参考文献 | 第93-99页 |
致谢 | 第99-101页 |
个人简历 | 第101-103页 |
攻读硕士期间发表的学术论文与取得的其他科研成果 | 第103页 |