| 摘要 | 第1-11页 |
| ABSTRACT | 第11-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-15页 |
| ·研究背景和意义 | 第12-13页 |
| ·片上存储器可测性设计（DFT） | 第13页 |
| ·片上存储器可调试性设计（DFD） | 第13页 |
| ·片上存储器调测试结构融合设计 | 第13页 |
| ·课题研究的主要内容 | 第13-14页 |
| ·提出新的 March 算法 | 第13-14页 |
| ·设计基于新 March 算法的 MBIST 电路 | 第14页 |
| ·设计基于 MBIST 控制器的宏测试结构 | 第14页 |
| ·验证所实现的调测试结构 | 第14页 |
| ·论文结构 | 第14-15页 |
| 第二章 存储器调测试设计技术的相关研究 | 第15-27页 |
| ·存储器的故障类型 | 第15-16页 |
| ·单一单元故障类型 | 第15-16页 |
| ·耦合故障类型 | 第16页 |
| ·可测性设计技术的研究与发展 | 第16-20页 |
| ·可测性设计的概念 | 第17页 |
| ·可测性设计的方法 | 第17-20页 |
| ·存储器的调测试方法 | 第20-23页 |
| ·存储器的测试方法 | 第20-22页 |
| ·存储器的调试方法 | 第22-23页 |
| ·存储器测试算法简介 | 第23-26页 |
| ·存储器扫描算法 | 第23页 |
| ·CHECKER PATTERN 算法 | 第23页 |
| ·GALPAT 算法 | 第23-24页 |
| ·Checkboard 算法 | 第24页 |
| ·March 算法 | 第24-25页 |
| ·各种测试算法对比 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 March算法研究与改进 | 第27-46页 |
| ·基于故障状态图的 March 算法研究方法 | 第27-28页 |
| ·单一单元故障类型 March 元素分析 | 第28-32页 |
| ·状态故障 | 第28页 |
| ·转换故障 | 第28-29页 |
| ·写干扰故障 | 第29-30页 |
| ·读破坏故障 | 第30-31页 |
| ·错误读故障 | 第31页 |
| ·伪读破坏故障 | 第31-32页 |
| ·耦合故障类型 March 元素分析 | 第32-44页 |
| ·状态耦合故障 | 第32-33页 |
| ·读干扰耦合故障 | 第33-35页 |
| ·不改变状态的写干扰耦合故障 | 第35-36页 |
| ·改变状态的写干扰耦合故障 | 第36-37页 |
| ·转换耦合故障 | 第37-39页 |
| ·写破坏耦合故障 | 第39-40页 |
| ·读破坏耦合故障 | 第40-41页 |
| ·伪读破坏耦合故障 | 第41-42页 |
| ·错误读耦合故障 | 第42-44页 |
| ·March YY 算法推导过程 | 第44-45页 |
| ·March YY 算法推导步骤详解 | 第44-45页 |
| ·March YY 算法与 March C+算法具体描述与故障覆盖率对比 | 第45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 基于 March YY 算法的调测试逻辑设计 | 第46-52页 |
| ·存储器内建自测试逻辑设计 | 第46-48页 |
| ·基于 MBIST 控制器的宏测试逻辑设计 | 第48-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 逻辑功能验证 | 第52-64页 |
| ·基于 March YY 算法的 MBIST 的验证 | 第52-58页 |
| ·基于 March YY 算法的 MBIST 验证方法 | 第52页 |
| ·基于 March YY 算法的 MBIST 仿真结果 | 第52-58页 |
| ·基于 MBIST 控制器的 MT 结构的验证 | 第58-63页 |
| ·基于 MBIST 控制器的 MT 结构的验证方法 | 第58-59页 |
| ·基于 MBIST 控制器的 MT 结构的仿真结果 | 第59-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 第六章 结束语 | 第64-65页 |
| ·全文工作总结 | 第64页 |
| ·未来工作展望 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第68页 |
