产品合格率时间序列的混沌特性识别及预测
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-18页 |
| ·研究背景 | 第11页 |
| ·研究现状 | 第11-14页 |
| ·传统质量预测方法 | 第12-13页 |
| ·现代质量预测方法 | 第13-14页 |
| ·现有研究方法的局限 | 第14-15页 |
| ·研究目的及意义 | 第15-16页 |
| ·研究内容和框架 | 第16-18页 |
| 第二章 混沌时间序列预测相关理论及其应用 | 第18-27页 |
| ·混沌基本理论 | 第18-19页 |
| ·混沌时间序列识别方法 | 第19-21页 |
| ·定性方法 | 第19-20页 |
| ·定量方法 | 第20-21页 |
| ·相空间重构 | 第21-24页 |
| ·相空间重构理论 | 第21-22页 |
| ·相空间重构参数选择 | 第22-24页 |
| ·混沌时间序列预测方法 | 第24-25页 |
| ·混沌时间序列预测的应用现状 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 产品合格率时间序列的相空间重构 | 第27-41页 |
| ·延迟时间 | 第27-33页 |
| ·延迟时间的选择方法 | 第27-29页 |
| ·延迟时间计算方法的仿真算例 | 第29-33页 |
| ·嵌入维的计算方法 | 第33-36页 |
| ·产品合格率时间序列延迟时间及嵌入维的确定 | 第36-40页 |
| ·数据的预处理 | 第36-37页 |
| ·产品合格率序列的延迟时间 | 第37-38页 |
| ·产品合格率序列的嵌入维 | 第38-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 产品合格率时间序列的混沌特性分析 | 第41-49页 |
| ·关联维数法 | 第41页 |
| ·最大 Lyapunov 指数法 | 第41-44页 |
| ·Lyapunov 指数 | 第41-42页 |
| ·最大 Lyapunov 指数的计算方法 | 第42-44页 |
| ·产品合格率序列的混沌特性识别 | 第44-48页 |
| ·产品合格率序列的关联维数 | 第44-45页 |
| ·产品合格率序列的最大 Lyapunov 指数 | 第45-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 产品合格率的预测 | 第49-65页 |
| ·混沌时间序列预测方法 | 第49-54页 |
| ·全域法 | 第49-51页 |
| ·局域法 | 第51-52页 |
| ·基于最大 Lyapunov 指数预测法 | 第52-53页 |
| ·混沌系统的最大可预测天数 | 第53-54页 |
| ·实验设计 | 第54-55页 |
| ·数据准备 | 第54页 |
| ·流程设计 | 第54-55页 |
| ·仿真实验及结果分析 | 第55-64页 |
| ·两种方法的仿真实验 | 第55-56页 |
| ·两种方法对产品合格率预测效果的对比分析 | 第56-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 总结与展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-72页 |
| 附录 1 自相关法源程序 | 第72-73页 |
| 附录 2 平均位移法源程序 | 第73-75页 |
| 附录 3 联合平均位移法源程序 | 第75-77页 |
| 附录 4 小数据量法源程序 | 第77-78页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-81页 |
| 附件 | 第81页 |
