首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--半导体技术论文--铁电及压电器件论文

基于场致相变应变效应的反铁电厚膜微悬臂梁驱动构件研究

摘要第1-5页
Abstract第5-9页
第一章 绪论第9-19页
   ·课题的提出和研究背景第9-10页
   ·微驱动构件的国内外研究现状第10-13页
   ·反铁电材料的国内外研究现状第13-17页
     ·反铁电材料的发展简史第13-14页
     ·反铁电材料的定义及其基本特征第14-16页
     ·反铁电材料的制备方法研究进展第16-17页
   ·论文的选题依据及研究内容第17-19页
第二章 反铁电厚膜异质集成制造工艺优化第19-35页
   ·Sol-Gel 技术制备 PLZT 反铁电厚膜第19-22页
   ·溶胶的浓度对反铁电厚膜的影响第22-27页
     ·溶胶浓度对厚膜结构形貌的影响第22-25页
     ·溶胶浓度对厚膜电学性能的影响第25-27页
   ·退火对反铁电厚膜的影响第27-33页
     ·退火温度对厚膜的影响第28-30页
     ·热处理工艺对厚膜的影响第30-33页
   ·小结第33-35页
第三章 反铁电厚膜相变行为研究第35-45页
   ·电场诱导反铁电厚膜相变第35-40页
     ·P-E 测试第35-36页
     ·C-V 测试第36-37页
     ·温度场调控下的 C-V 测试第37-40页
   ·温度诱导反铁电厚膜相变第40-43页
     ·温谱曲线的 AFE-FE 与 FE-PE 相变拟合第40-41页
     ·电场调控温谱及其相图第41-43页
   ·小结第43-45页
第四章 硅基反铁电厚膜微悬臂梁加工工艺第45-52页
   ·微悬臂梁的版图及工艺设计第45-47页
   ·反铁电厚膜微悬臂梁的加工工艺第47-51页
     ·PLZT 反铁电厚膜的刻蚀工艺第47-49页
     ·PLZT 反铁电微悬臂梁的加工工艺第49-50页
     ·微悬臂梁的键合封装第50-51页
   ·小结第51-52页
第五章 硅基反铁电厚膜微悬臂梁的响应执行能力测试第52-66页
   ·测试原理第52-53页
   ·Scan/Sine/Square 三大测试模式第53-58页
     ·扫频(Scan)模式第54-55页
     ·正弦(Sine)模式第55-57页
     ·方波(Square)模式第57-58页
   ·微悬臂梁的反铁电性能测试第58-59页
   ·加压方式对微悬臂梁测试的影响第59-62页
   ·不同微悬臂梁的开关特性第62-64页
   ·小结第64-66页
第六章 总结与展望第66-68页
   ·全文总结第66-67页
   ·展望与建议第67-68页
参考文献第68-74页
硕士学位期间发表的论文及所取得的研究成果第74-76页
致谢第76页

论文共76页,点击 下载论文
上一篇:晶体集成式红外探测器的设计及制备工艺研究
下一篇:MEMS热电堆红外探测器的结构设计及制造研究