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新型半导体材料物理特性的凝聚态光谱研究

摘要第1-9页
ABSTRACT第9-18页
第一章 绪论第18-23页
第二章 半导体光谱研究相关的基本理论第23-48页
   ·半导体光学常数及Kramers-Kronig 关系第24-28页
     ·半导体基本光学常数第24-26页
     ·Kramers-Kronig(K-K)色散关系第26-28页
   ·半导体薄膜的反射和透射模型第28-33页
   ·晶格动力学及声子色散曲线第33-38页
   ·半导体电子能带及电子跃迁的相关理论第38-47页
     ·半导体能带理论第38-39页
     ·半导体中的电子跃迁第39-45页
     ·半导体中的电子-声子相互作用第45-47页
 参考文献第47-48页
第三章 半导体材料的制备、表征及光谱实验第48-63页
   ·半导体材料的制备方法概述第48-51页
   ·实验半导体薄膜的制备过程及表征第51-55页
   ·半导体光谱实验仪器介绍第55-62页
 参考文献第62-63页
第四章 半导体材料晶格振动的光谱研究第63-100页
   ·极性半导体光学声子晶格振动的远红外反射谱研究第63-73页
     ·远红外晶格振动介电常数模型第63-67页
     ·Pb_(1-x)Sr_xSe 薄膜远红外反射晶格振动分析第67-70页
     ·Mg_xZn_(1-x)O 薄膜远红外反射晶格振动分析第70-73页
   ·半导体晶格振动的拉曼光谱研究第73-89页
     ·拉曼散射的基本理论第74-76页
     ·拉曼散射的选择定则及配置第76-77页
     ·Pb_(1-x)Sr_xSe 三元化合物的拉曼散射研究第77-83页
     ·InN 变温拉曼光谱特性研究第83-89页
   ·三元混合晶体声子模行为的研究第89-98页
     ·修正的随机元素同向位移模型第90-94页
     ·Pb_(1-x)Sr_xSe 三元化合物声子模行为的研究第94-95页
     ·Mg_xZn_(1-x)O 三元化合物声子模行为的研究第95-98页
 参考文献第98-100页
第五章 半导体材料带隙及以上临界点跃迁过程的光谱研究第100-119页
   ·带隙及带隙以上临界点跃迁的介电函数模型第100-103页
   ·三元Mg_xZn_(1-x)O 透射谱及带隙的研究第103-106页
   ·AlN 反射谱高能临界点跃迁的研究第106-113页
   ·InN 反射谱高能临界点跃迁的研究第113-117页
 参考文献第117-119页
第六章 光谱方法在半导体薄膜材料质量研究中的应用第119-135页
   ·三元Pb_(1-x)Sr_xSe 的无序性研究第120-122页
   ·二元化合物InN 薄膜质量的显微拉曼分析方法第122-130页
   ·三元化合物Mg_xZn_(1-x)O 材料组分分布均匀性的分析第130-134页
 参考文献第134-135页
第七章 结论第135-138页
致谢第138-139页
攻读学位期间发表的学术论文目录及奖励第139-142页

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