| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·课题背景 | 第9-10页 |
| ·国内外技术动态 | 第10-12页 |
| ·本专题研究内容 | 第12页 |
| ·章节安排 | 第12-13页 |
| 第二章 ATE 平台通用性技术研究 | 第13-26页 |
| ·自动测试系统概述 | 第13-17页 |
| ·自动测试系统发展 | 第13-14页 |
| ·自动测试系统总线与通用性 | 第14-15页 |
| ·自动测试系统的软件标准 | 第15-17页 |
| ·通用性问题 | 第17页 |
| ·自动测试系统通用性 | 第17-18页 |
| ·IVI 技术研究 | 第18-22页 |
| ·IVI 驱动器的类型 | 第19-21页 |
| ·IVI 仪器互换性的实现 | 第21-22页 |
| ·IVI 关键技术研究 | 第22页 |
| ·面向信号的自动测试系统 | 第22-25页 |
| ·面向信号的特点 | 第22-23页 |
| ·面向信号的 ATLAS2K 语言 | 第23-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 故障诊断与推理技术的研究 | 第26-40页 |
| ·故障诊断的基本概念 | 第26-29页 |
| ·故障定义与分类 | 第26-28页 |
| ·故障诊断的基本方法 | 第28-29页 |
| ·内建自测试 | 第29-32页 |
| ·BIT 分类 | 第29-31页 |
| ·BIT 对系统诊断的应用 | 第31-32页 |
| ·故障诊断方法的研究 | 第32-39页 |
| ·故障诊断方法的分类 | 第32-33页 |
| ·故障诊断专家系统 | 第33-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 ATE 测试平台系统架构 | 第40-48页 |
| ·平台设计 | 第40-41页 |
| ·硬件架构 | 第41-44页 |
| ·硬件结构设计 | 第41-43页 |
| ·仪器资源 | 第43页 |
| ·开关矩阵的设计 | 第43-44页 |
| ·软件架构 | 第44-47页 |
| ·平台软件层次结构 | 第44-46页 |
| ·开发工具选择 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第五章 ATE 测试平台实例——相控阵雷达测试系统 | 第48-67页 |
| ·被测对象需求 | 第48页 |
| ·测试策略 | 第48-51页 |
| ·测试程序分析 | 第48-49页 |
| ·测试项目 | 第49-51页 |
| ·测试流程设计 | 第51-53页 |
| ·通信程序设计 | 第53-55页 |
| ·通信流程 | 第53-55页 |
| ·信息格式 | 第55页 |
| ·雷达参数测试数据库 | 第55-56页 |
| ·故障诊断推理的设计实现 | 第56-65页 |
| ·故障诊断推理的策略 | 第56-57页 |
| ·BIT 信息的利用 | 第57-58页 |
| ·应用参数测试的故障诊断推理 | 第58-59页 |
| ·故障诊断数据库的设计 | 第59-61页 |
| ·基于表达式分析的故障诊断推理 | 第61-65页 |
| ·系统调试与验证 | 第65-66页 |
| ·硬件环境 | 第65页 |
| ·软件环境 | 第65页 |
| ·调试与分析 | 第65-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第六章 结束语 | 第67-69页 |
| ·全文总结 | 第67页 |
| ·贡献与创新 | 第67-68页 |
| ·不足与展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 个人简历、在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第73页 |
| 一.个人简历 | 第73页 |
| 二.研究生期间的工作简介 | 第73页 |
| 三.论文发表 | 第73页 |
| 四.获奖 | 第73页 |